ブロックアーキテクチャに基づく動的再構成可能なMPEGプロセッサ(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
現在開発中である動的再構成可能なMPEGプロセッサの構成と,再構成演算要素である機能ブロックの設計結果について報告する.パイプライン処理回路を動的に形成するための構成として,ブロックアーキテクチャを提案した.機能ブロックについて, Xilinx社のFPGAであるXCV-2000Eをターゲットとして設計を行なった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-28
著者
-
大曽根 隆志
岡山県立大学
-
森下 賢幸
岡山県立大学 情報工学部
-
小椋 清孝
岡山県立大学 情報工学部
-
大曽根 隆志
富山県立大学工学部電子情報工学科
-
森下 賢幸
岡山県立大学情報工学部
-
大曽根 隆志
岡山県立大学情報工学部
-
小椋 清孝
岡山県立大学情報工学部
-
森下 賢幸
岡山県大 情報工
-
森下 賢幸
岡山県立大学
-
小椋 清孝
岡山県立大学
関連論文
- n-MOSFETの非対称性および配置方位依存性の解析(デバイス,VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- n-MOSFETの非対称性および配置方位依存性の解析(デバイス, VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- CMOSFETのチャネル幅方向の信頼性を分離して評価するためのテスト構造(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- CMOSFETのチャネル幅方向の信頼性を分離して評価するためのテスト構造(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- LDD構造CMOSFETにおける(高ドープ/低ドープ)・ドレイン解析用テスト構造(VLSI回路, デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力))
- LDD構造CMOSFETにおける(高ドープ/低ドープ)・ドレイン解析用テスト構造(VLSI回路, デバイス技術(高速・低電圧・低消費電力))
- 高精度CMOS定電圧回路の開発(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- 高精度CMOS定電圧回路の開発(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- 半導体デバイス内の発光分布と発光解析用顕微鏡で観測した光強度分布の光伝搬経路シミュレーションを用いた比較
- シリコン・イオン注入したゲート酸化膜における界面準位測定法の比較