セラミック絶縁層形酸化物蛍光体薄膜EL素子の経時特性
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概要
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発光層に各種酸化物蛍光体を用いる薄膜EL素子における高周波駆動時のEL特性の経時安定性について検討した。BaTiO_3セラミックを基板兼絶縁層に用い、Zn_2Si_xGe_<1-x>O_4:MnあるいはGa_2O_3:Mn薄膜を発光層に用いる片絶縁層構造薄膜EL素子を作製し、特別な封止処理を施さずに、大気中、室温下で、10kHzの正弦波交流電圧で素子を駆動した時のEL特性の経時変化を測定した。Ga_2O_3:Mn薄膜EL素子は、1000時間以上の長期間にわたり安定に動作を示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-01-27
著者
-
宮田 俊弘
金沢工業大学光電相互変換デバイスシステム研究開発センター
-
南 内嗣
金沢工業大学光電相互変換デバイスシステム研究開発センター
-
鈴木 信吾
金沢工業大学電子デバイスシステム研究所
-
中谷 敏邦
金沢工業大学電子デバイスシステム研究所
-
南 内嗣
金沢工業大学 光電相互変換デバイスシステム研究開発センター
-
宮田 俊弘
金沢工業大学 光電相互変換デバイスシステム研究開発センター
-
宮田 俊弘
金沢工業大学
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