電圧・温度補償されたAPD-ECL回路及びECLとCMOSの消費電力比較方法の提案
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概要
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ECLの高速・低消費電力化のための回路技術として、アクティブプルダウン(APD)回路が研究・開発されている。しかしながらこれまでのAPD回路の多くは、PNPトランジスタやキャパシタなど特別な素子を必要とし、また電源電圧や温度の変動に対して動作が完全に補償されていなかった。さらにAPD回路ではスイッチング時にAC電流が流れるが、AC電流を考慮した消費電力の議論はこれまで十分になされていなかった。本発表では、電源電圧と温度の変動に対して安定に動作し、かつ特別な素子を必要としないAPD回路を提案する。またAC電流を考慮して消費電力を評価するとともに、ECL回路とCMOS回路の公平な消費電力の比較方法について提案する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
-
上田 公大
三菱電機(株) システムLSI研究所
-
益子 耕一郎
三菱電機(株)
-
益子 耕一郎
三菱電機株式会社システムlsi事業化推進センター
-
佐藤 久恭
三菱電機(株)システムLSI開発研究所
-
佐々木 なぎさ
三菱電機(株)システムLSI開発研究所
-
上田 公大
三菱電機株式会社
-
佐藤 久恭
株式会社ルネサステクノロジ
-
佐々木 なぎさ
三菱電機株式会社
-
佐藤 久恭
三菱電機システムlsi事業化推進センター
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