電気光学サンプリング法による電界成分の測定
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概要
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超短パルスレーザを用いた電気光学サンプリングシステムにおいて、サンプリング光の偏光方向を変えることにより、横方向電界成分と進行方向電界成分の測定を行った。本測定においては、電気光学プローブは空間的に固定されているため、横方向電界成分と進行方向電界成分を分離して精度よく求めることが可能となった。電気光学プローブは,非交叉項に対応する電気光学係数の大きなLiTaO_3のX板を用いた。このとき、サンプリング光の偏光方向とリターデーションを適当に設定することにより、EOプローブ結晶中の主軸方向の比例した出力が得られる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-07-25
著者
-
板谷 太郎
電子技術総合研究所 電子デバイス部
-
中川 格
電子技術総合研究所
-
杉山 佳延
電総研
-
杉山 佳延
電子技術総合研究所
-
太田 公廣
電子技術総合研究所
-
鹿野 文久
小山工業高等専門学校
-
板谷 太郎
電子技術総合研究所
-
太田 公広
電子技術総合研究所
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