太陽電池の回路定数の計算方法の改善とパラメータの時系列相関解析
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概要
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a-Si太陽電池のように光照射により膜の特性が変化する試料については, その膜質の変化の把握のために太陽電池の等価回路定数の評価が必要であるが, これらをIV特性の実測値から精度良く計算するには, 雑音を適切に処理する必要がある. ここでは, 藁品の計算方法の改善により, a-Si太陽電池の劣化・回復実験における等価回路定数の計算を行なった. 更に, 劣化・回復試験のストレスの相似関係の判定方法として, 等価回路定数及び性能変数について時系列相関を提案し, その検討を行った.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-15
著者
-
中村 國臣
電子技術総合研究所
-
杉山 佳延
電総研
-
杉山 佳延
電子技術総合研究所
-
小柳 理正
電子技術総合研究所
-
小島 猛
電子技術総合研究所
-
柳沢 武
電子技術総合研究所
-
高久 清
電子技術総合研究所
-
柳沢 武
産業技術総合研究所
-
中村 國臣
産業技術総合研究所
-
小柳 理正
産業技術総合研究所
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