3-4 電総研における歴史に残すべき技術 (3. 企業や研究機関等ごとの歴史に残すべき技術) (電子情報通信分野の歴史に残すべき技術 : 産業界を中心として)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
電気試験所の組織の変遷を概観し,その中で最大の変化というべき1948年の試,験所分割以後の電気試験所(1970年に電子技術総合研究所と改称)において開発され,実用化された技術の中から,磁電デバイス,電子ビーム露光装置,DSA技術,チャネルホットエレクトロン注入型不揮発性半導体メモリ,トランジスタ式電子計算機,文字認識における複合類似度法,画像処理用ソフトウェアパッケージSPIDERの7件を紹介する.
- 1999-11-25
著者
関連論文
- 分光CV、分光CF特性からみたCIGS太陽電池の接合構造
- Cu(In, Ga)Se_2系太陽電池特性の光強度・温度依存性及び安定性
- 太陽電池の回路定数の計算方法の改善とパラメータの時系列相関解析
- 不安定な条件下で測定した太陽電池のIVデータ処理法
- a-Si太陽電池の劣化・回復特性
- 回帰分析に基づいた傾斜面日射量推定法の一提案
- フラッシュ光による簡易IV取得システムの再現性
- CuInGaSe_2 太陽電池特性の各種ストレスに対する挙動
- 分光光電流の位相特性による積層型太陽電池の各層評価
- Cu(In,Ga)Se_2太陽電池特性の静磁界印加による効果
- CuInGaSe_2太陽電池特性の光変化と回復現象 -光強度依存症測定による評価-
- A-9-1 CuInGaSe_2太陽電池特性の光変化と回復
- [2-2]積層型a-Si太陽電池の各層劣化の評価(日本信頼性学会 第8回研究発表会報告)
- [2-1]分光CV測定によるCIGS太陽電池の解析(日本信頼性学会 第8回研究発表会報告)
- 積層型a-Si太陽電池の各層劣化の評価
- 分光CV測定によるCIGS太陽電池の解析
- 光照射に伴うCu(InGs)Se_2太陽電池諸特性の挙動
- 電圧掃引付きの分光感度特性による積層型太陽電池の各層評価
- 積層型a-Si太陽電池の各層劣化の分光感度特性,分光および暗I-V特性による解析
- 4-2 三層アモルファス太陽電池の信頼性評価パラメータ
- 太陽電池用封止材 (EVA) の紫外線及び温湿度における環境試験
- グラフ処理用言語GML-56
- Westran : Fortran をベースとした構造的言語とその処理系
- グラフ処理システム GMS とその応用
- グラフ処理用2次元言語GMLとその機能
- 光照射及び電流注入による CIGS 太陽電池の劣化解析
- 光/温・湿度環境における Cu(InGa)Se_2 太陽電池特性の経時的挙動
- 集光照射による太陽電池と熱発電モジュールの複合発電特性
- 太陽電池モジュールの過渡応答による故障診断システム
- CIS系太陽電池モジュール特性の光照射に伴う挙動: 光照射/暗状態サイクル試験
- 3-4 電総研における歴史に残すべき技術 (3. 企業や研究機関等ごとの歴史に残すべき技術) (電子情報通信分野の歴史に残すべき技術 : 産業界を中心として)
- ソフトウェアにおける信頼性 (高信頼化技術)
- 72-37 データ構造の理解をめざして
- 71-1 Genie コンパイラでの一般化配列の演算
- 69-37 BNF文法に対するパーザーの生成
- 68-37. ディジタル像のホログラフ化による表示
- 68-20. ブロック向きシステム設計における考察
- F-10. 計算機による計算機設計
- ラムダ計算と図式表現
- 型の扱いとグラフ変換
- SS2000-11 項書き換え系に基づく関数型言語処理とグラフ変換
- 組合せ論理に基づく関数型言語処理とグラフ変換
- 電子計算機の国産化と国策について
- 「碍子試験所」は公式に存在したか
- ラムダ計算の図式表現とグラフ変換
- 太陽電池モジュールの減光法による故障診断
- LED測光セミナー報告
- 第2部会ボールダー会議報告
- CIE第2部会の活動報告
- 公開部会国内委員会報告・第2部会
- 第3回JCIEセミナーの報告と感想
- 「CIE標準の光」規格の改訂について
- 公開部会国内委員会報告・第2部会
- CIE第2部会アクティビティ・レポート 1995年7月
- 第11回日本照明委員会大会報告
- Cu(In, Ga)Se_2太陽電池のI-V及びC-F特性の温度・光強度依存性
- 積層型a-Si太陽電池の加速劣化試験
- 積層型s-Si太陽電池の長期性能変化の予測(第6回信頼性研究発表会)
- Cu(In, Ga)Se_2太陽電池の安定性とC-V特性
- 太陽電池・ダイオードのI-V特性と回路定数関数の線形変換を利用した高速最小二乗近似法 : 関数の線形変換を利用した高速最小二乗近似法
- a-Si太陽電池の効率の劣化と回復に伴う等価回路定数の変化
- アモルファスSi太陽電池の初期劣化の温度依存性
- 積層型a-Si太陽電池の安定化効率
- a-Si太陽電池の光(電流)劣化および回復に伴う特性温度係数の変化
- Cu(In,Ga)Se2系太陽電池特性の光強度・温度依存性及び安定性
- 三層アモルファス太陽電池の信頼性評価パラメータ (〔日本信頼性学会〕第12回信頼性シンポジウム 報文集) -- (故障解析)
- 多層膜の光学的特性の計算方法 (半導体デバイス特集-6-)
- CCDの電荷転送速度の計算機数値解析とその近似式 (半導体デバイス特集-6-)