青色発光素子の信頼性評価例
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概要
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高輝度GaN系青色発光ダイオードについて、電流ストレスによる長期加速劣化試験を行なった。発光出力強度の経時劣化パターンを調べ、劣化のストレス依存性および発光強度半減寿命の予測式を求めた。また、劣化の主要因として、欠陥準位の生成による発光再結合確率の低下が示唆された。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-07-12
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