太陽電池モジュール構成セルの劣化評価方法
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概要
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筆者らは,すでに太陽電池モジュールを構成するセルの特性(IscとVoc)を,モジュール端子から非破壊的に評価する方法を提案した.この方法は,通常のモジュールIV特性と,評価対象セルに減光板をかぶせたモジュールIV特性とを測定し,そのデータを解析してセルの特性を評価する方法である.今回は,従来提案した方法を,太陽電池モジュール構成セルの劣化評価に適用できるように簡素化した.具体的には構成セルのISCを推定し,その分布を調べる方法を示す.
- 2002-11-08
著者
-
中原 乾志
産総研
-
中村 国臣
電子技術総合研究所
-
津田 泉
(独)産業技術総合研究所
-
高久 清
産総研
-
中村 國臣
産業技術総合研究所
-
高久 清
(独)産業技術総合研究所電力エネルギー研究部門,太陽光発電システムグループ
-
中村 國臣
(独)産業技術総合研究所電力エネルギー研究部門,太陽光発電システムグループ
-
中原 乾志
(独)産業技術総合研究所電力エネルギー研究部門,太陽光発電システムグループ
-
津田 泉
産業技術総合研究所
-
中村 國臣
(独)産業技術総合研究所 電力エネルギー研究部門 太陽光発電システムグループ
-
高久 清
(独)産業技術総合研究所太陽光発電研究センター
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