報告 日本信頼性学会 第11回研究発表会報告

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概要

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• 日本信頼性学会の論文

著者

• 鈴木 和幸

  電気通信大学

• 鈴木 和幸

  電気通信大学大学院電気通信学研究科

• 中村 国臣

  電子技術総合研究所

• 中村 國臣

  産業技術総合研究所

• 塩野 登

  シンポジウム実行委員会

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• LSIエレクトロマイグレーションの寿命分布に関する一考察(日本信頼性学会第9回研究発表会)
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• 2A-3 多重モードワイブル分布の母数推定の為の最適試験計画(第3回信頼性研究発表会REAJ)
• 4-1 破壊試験における強度分布の母数推定のための最適試験計画(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)
• 1.2 不良品群を考慮した市場信頼性データ解析(セッション1「理論・データ解析」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
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• 2-4 ばらつき解析による電子回路基板の信頼性予測(試験・故障解析,セッション2,第13回春季信頼性シンポジウム)
• 3-2 劣化を考慮した電子回路のばらつき解析 : ばらつき問題未然防止への試み(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)
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