臨界温度80Kの超伝導物質Bi_2Sr_2CaCu_2O_y単結晶と薄膜のX線光電子分光法による表面分析(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)
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概要
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高周波マグネトロンスパッタ法により作製したBi_2Sr_2Ca_n-1Cu_nO(Bi系)80K相薄膜とバルク単結晶のX線光電子分光測定を行い, それらの表面組成や構成元素の化学結合状態を調べた.薄膜とバルク単結晶の表面組成や構成元素の化学結合状態は大きく異なっていた.80K相バルク単結晶の清浄表面を基準にすると, 薄膜の表面では過剰なBiやSrが存在し, しかも薄膜表面は, Bi系80K相超伝導体とは異なる化学結合状態を持つBi, Sr, Ca及びCuを含む化合物で覆われていることが分かった.
- 1991-11-05
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