信号値の変化に着目したテスト生成手法
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概要
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近年のLSIの大規模化に伴いテスト工数の増加が大きな問題となっており、テストパターン生成の自動化が最重要課題の一つとなっている。組合せ回路を対象とした手法は幾つか提案されているが、順序回路を対象とした生成手法はいまだに実用レベルに達していない。本稿では、順序回路を対象とするテストパターン生成手法として、信号値の変化に着目する手法を提案する。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1989-10-16
著者
-
吉村 猛
日本電気(株)
-
藤田 友之
日本電気(株)
-
尾野 年信
Nec C&c研究所
-
尾野 年信
日本電気(株)C&Cシステム研究所
-
吉村 猛
日本電気(株)c&cシステム研究所
-
尾野 年信
日本電気(株)
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