パーシャルスキャン設計におけるスキャンフリップフロップ選択の一手法

概要

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順序回路のテスト容易化手法としてパーシャルスキャンが注目されている。パーシャルスキャンは、少ないハードウェア付加でテスタビリティを大きく向上させる可能性があるが、その効果はスキヤンするフリップフロップ(FF)に大きく依存する。これまでに多くのスキャンFF選択手法が提案されている。サイクル切断法に代表される従来手法では、相対的にテスタビリティを向上させることは可能であるが、回路規模が非常に大きい場合にはそれだけで十分なテスタビリティが得られるという保証はない。また、スキヤンされた回路に対し自動生成されたテスト系列が非常に長大となることも問題である。本稿では、パーシャルスキャンによって回路分割を可能とすることにより、回路の規模によらず常に高いテスタビリティを実現する、新しいスキャンFF選択手法を提案する。本手法によリ、テスト生成が容易になるとともに、順序回路のテストパターンでは困難であったパターンの圧縮も可能となリ、短いテスト系列を短時間に生成することが可能になる。
一般社団法人情報処理学会の論文
1994-03-07