パーシャルスキャンテストにおけるFF選択手法の評価

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概要

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LSIのテスト容易化設計の一手法として、スキャンパステストが広く普及している。スキャンパステストは、全てのFFをスキャン化するフルスキャン設計と、一部のFFをスキャン化するパーシャルスキャン設計とがあるが、パーシャルスキャンの場合、順序回路に対するテストパタン生成が必要であり、フルスキャンの様に高い故障検出率を得る事が難しい。パーシャルスキャン設計におけるテストパタン生成の複雑さは、スキャン化するFFの選択法に依存している。本稿では、パーシャルスキャン設計におけるFF選択に関し幾つかの方法を用いて実回路による実験を行い、それらの実用性を評価した結果を報告する。
社団法人電子情報通信学会の論文
1997-08-13

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