CMOS回路に適したBIST用テストパターン発生器

概要

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LSIのテスト手法として有望視されているBISTのテストパターン発生器(TPG)としてLFSRがよく用いられる。被テスト回路が組合せ回路で冗長でなければ、原始多項式を生成多項式とするLFSRを用い、網羅的にパターンを印加することによって全てのstuck-at故障の検出が保証されるし、ハードウェアも簡単だからである。ところが、現在のLSIのキーテクノロジであるCMOS回路の場合、特有のstuck-open故障の存在により通常のLFSRではTPGとして不十分であるといわれている。stuck-open故障の存在により組合せ回路が順序回路的に変換され、その検出に連続する2パターンが必要となるからである。これまでにstuck-open故障を検出できるTPGがいくつか提案されているが、ハードウェアオーバヘッドが大きかったり、テストパターン数が多かったりと必ずしもBISTに適しているとはいいがたい。本稿ではBISTに適したハードウェアオーバヘッドの小さなTPGを提案する。
一般社団法人情報処理学会の論文
1989-10-16