磁気構造観察用放射光光電子顕微鏡(SR-PEEM)の開発

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概要

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• The magnetic properties of thin films with reduced lateral dimension are significantly different from those of materials in the bulk state, and have provided a wealth of scientific interest and potential technological applications. It is therefore very important to study magnetism in microstructures or small magnetic domains, and one of the most powerful tools for investigating such magnetism is the photoelectron emission microscope with synchrotron radiation as its light source (SR-PEEM). We report in this paper our set-up of a new SR-PEEM system, and present the preliminary results.

• 社団法人日本磁気学会の論文
• 2001-04-15

著者

• 尾嶋 正治

  東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻

• 原沢 あゆみ

  東京大学物性研究所

• 木下 豊彦

  東京大学物性研究所軌道放射物性研究施設筑波分室

• 小野 寛太

  東京大学大学院工学系研究科

• 木原 隆幸

  東大工

• 木下 豊彦

  NEDO

• 小野 寛太

  総研大・高エ研

• 木下 豊彦

  東京大学物性研究所

• 尾嶋 正治

  東京大学大学院工学系研究科

• 奥田 太一

  東京大学物性研究所

• 木原 隆幸

  東京大学大学院工学系研究科

• 木原 隆幸

  東大院工

• 横尾 篤

  NTT 物性科学基礎研究所

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