シェリュプスキー法によるガラスの均質度の高精度測定のための試料作製
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概要
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- 社団法人日本セラミックス協会の論文
- 1982-07-01
著者
-
井上 悟
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所
-
山根 正之
東京工業大学無機材料工学科
-
山根 正之
Department Of Chemistry And Materials Science Tokyo Institute Of Technology
-
山根 正之
東京工業大学
-
井上 悟
無機材質研
-
井上 悟
東京工業大学工学部無機材料工学科
-
芹沢 高
キャノン(株)
-
滝沢 一貴
新潟大学工学部応用科学化
-
井上 悟
無機材質研究所
-
滝沢 一貴
新潟大学工学部
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