シェルブスキー法によるガラスの定量的均質度測定のための検量線の作成
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概要
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- 社団法人日本セラミックス協会の論文
- 1981-05-01
著者
-
井上 悟
独立行政法人物質・材料研究機構物質研究所
-
山根 正之
東京工業大学無機材料工学科
-
山根 正之
Department Of Chemistry And Materials Science Tokyo Institute Of Technology
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山根 正之
東京工業大学
-
井上 悟
無機材質研
-
井上 悟
東京工業大学工学部無機材料工学科
-
近江 成明
(株)保谷硝子光学事業部
-
井上 悟
無機材質研究所
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