K-10-10号機による下部電離層のイオン及び中性大気温度の同時測定
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概要
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Shadow methodを用いてK-10-10号機(1973年9月)で下部電離層のイオン及び中性大気温度を同時測定することに成功し,温度プロファイルが得られた。これらは同時に搭載された電子プローブ測定による電子温度プロファイルとほぼ一致し,更にこれらのプロファイルに興味深い構造があることが示された。
- 宇宙航空研究開発機構の論文
著者
-
河島 信樹
東京大学宇宙航空研究所
-
小山 孝一郎
台湾国立中央大学
-
平尾 邦雄
東京大学宇宙航空研究所
-
小山 孝一郎
東京大学宇宙航空研究所
-
村里 幸男
東京大学宇宙航空研究所
-
矢守 章
東京大学宇宙航空研究所
-
佐々木 進
東京大学宇宙航空研究所
-
矢守 章
宇宙科学研究本部
-
平尾 邦雄
東海大学工学部
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