小山 孝一郎 | 東京大学宇宙航空研究所
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概要
関連著者
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小山 孝一郎
東京大学宇宙航空研究所
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平尾 邦雄
東京大学宇宙航空研究所
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平尾 邦雄
東海大学工学部
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宮崎 茂
郵政省電波研究所
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河島 信樹
東京大学宇宙航空研究所
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木村 磐根
京都大学工学部電気工学第二教室
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小山 孝一郎
台湾国立中央大学
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福島 直
東京大学宇宙航空研究所
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木村 磐根
京都大学工学部
-
木村 磐根
大阪工大情報科学部
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村里 幸男
東京大学宇宙航空研究所
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矢守 章
東京大学宇宙航空研究所
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佐々木 進
東京大学宇宙航空研究所
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矢守 章
宇宙科学研究本部
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ウィリアムソン P.r.
米国航空宇宙局本部
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バンクス P.M.
米国ユタ州立大学物理学科
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竹口 晋
東京大学宇宙航空研究所
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三留 重夫
東京大学宇宙航空研究所
著作論文
- Sq focus付近における熱的電子のふるまい : K-9M-62号機の結果
- プラズマ内の空間電位について
- K-10-10号機による下部電離層のイオン及び中性大気温度の同時測定
- ダイナモ領域のSq focus付近における熱電子の異常加熱について
- S-310JA-2号機による電子温度測定(e.イベントセッション)(第2回極域における電離圏磁気圏総合観測シンポジウム : Part II)
- Glass-Sealed Langmuir ProbeおよびElectron Temperature Probeによる極域電離層の観測 : 電子密度・温度の測定
- Shuttle Electrodynamic Tether System(SETS)の電気的特性について
- Shuttle/Tethered Satellite System (TSS)の紹介と米国におけるその研究の現状
- 電離層プラズマにおける熱的電子のEnergy分布について
- 南太西洋地磁気異常地帯上空の電子温度分布 : 「たいよう」電子温度観測結果-I
- 観測ロケットのOff set電圧の測定
- Glass sealed Langmuir probeによる電子密度,温度の測定
- 汚染電極による電子密度の過少評価について
- 電子温度プローブの高密度プラズマへの応用
- Retarding Potential Trapの汚染定植の電子温度,イオン温度測定に及ぼす影響
- 電離層Dynamo領域における電子の加熱に関する予備的考察
- 電子温度プローブの設計基準
- ラングミュアプローブによる電子温度測定の信頼性について(プローブ表面の汚れについて)
- 電子温度プローブのReference電極によるEs layerの観測
- 電子温度プローブにおける電子の加熱の影響について
- 電子温度測定器の改良,小型化について
- 電子温度計