Glass-Sealed Langmuir ProbeおよびElectron Temperature Probeによる極域電離層の観測 : 電子密度・温度の測定
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概要
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DCラングミュアプローブによる電離層電子密度・温度の測定において,電極表面の汚染の影響は,まず第一に留意しなければならない.本論文では,この電極汚染の影響をさけて信頼し得るデータを得るために開発されたガラス封入型DCラングミュアプロ-ブ(Glass-sealed Langmuir probe),および電子温度プローブ(Electron temperature probe)について概説し,あわせて,極域電離層研究への応用の可能性をさぐる.
- 国立極地研究所の論文
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