電離層測定プローブ(III) : 円筒形Retarding Potential Trap
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概要
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従来,電離層プラズマ諸量の測定はおのおの別々の電極を用いて行なわれてきたが,プラズマ諸量の精密な相互比較をする場合とか,複数の種類のイオンが混在する場合などにおいては,単一電極系を用いて同時測定を行なう必要がある.この論文では,円筒形トラップ方式の電極で電離層プラズマ諸量を同時にかつself-consistentに測定する方法を考察した.
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