Observation of Subsurface Atoms of the Si(111)-($7{\times}7$) Surface by Atomic Force Microscopy
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概要
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It is generally difficult to obtain subsurface information by scanning probe microscopy. For certain tip conditions, we observe subsurface back-bond atoms on the Si(111)-($7{\times}7$) surface by atomic force microscopy without removing Si adatoms. We propose an imaging mechanism that is based on the interaction of the adatom with the back-bond atoms. Our model is supported by simultaneously obtained tunneling current and energy dissipation images, which show significant relaxation of adatoms.
- Japan Society of Applied Physicsの論文
- 2010-11-25
著者
-
森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
-
Morita S
Faculty Of Engineering Osaka University
-
Morita S
Osaka Univ. Osaka
-
Sugimoto Yoshiaki
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Abe Masayuki
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Morita Seizo
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sawada Daisuke
Graduate School Of Engineering Osaka University
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