Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers

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概要

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• Japan Institute of Metalsの論文
• 2009-05-01

著者

• 森田 清三

  大阪大学大学院工学研究科

• Morita S

  Faculty Of Engineering Osaka University

• Morita S

  Osaka Univ. Osaka

• Morita Shigenori

  Department Of Electronic Engineering Osaka University

• Mishima Syuzo

  Research Department Olympus Optical Co. Ltd.

• SAWADA Daisuke

  Graduate School of Engineering, Osaka University

• HIRAI Akira

  Graduate School of Engineering, Osaka University

• SUGIMOTO Yoshiaki

  Graduate School of Engineering, Osaka University

• ABE Masayuki

  Graduate School of Engineering, Osaka University

• MORITA Seizo

  Graduate School of Engineering, Osaka University

• Sugimoto Yoshiaki

  Graduate School Of Engineering Osaka University

• Abe Masayuki

  Graduate School Of Engineering Osaka University

• Morita Seizo

  Graduate School Of Engineering Osaka University

• Sawada Daisuke

  Graduate School Of Engineering Osaka University

• Hirai Akira

  Graduate School Of Engineering Osaka University

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