Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers
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概要
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- Japan Institute of Metalsの論文
- 2009-05-01
著者
-
森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
-
Morita S
Faculty Of Engineering Osaka University
-
Morita S
Osaka Univ. Osaka
-
Morita Shigenori
Department Of Electronic Engineering Osaka University
-
Mishima Syuzo
Research Department Olympus Optical Co. Ltd.
-
SAWADA Daisuke
Graduate School of Engineering, Osaka University
-
HIRAI Akira
Graduate School of Engineering, Osaka University
-
SUGIMOTO Yoshiaki
Graduate School of Engineering, Osaka University
-
ABE Masayuki
Graduate School of Engineering, Osaka University
-
MORITA Seizo
Graduate School of Engineering, Osaka University
-
Sugimoto Yoshiaki
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Abe Masayuki
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Morita Seizo
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sawada Daisuke
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Hirai Akira
Graduate School Of Engineering Osaka University
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