原子間力顕微鏡によるSiとGe表面での原子操作
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概要
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- 日本表面科学会の論文
- 2005-06-10
著者
-
杉本 宜昭
大阪大学大学院工学研究科
-
阿部 真之
大阪大学大学院工学研究科
-
森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
-
清野 宜秀
阪大フロンティア研究機構
-
阿部 真之
阪大フロンティア研究機構
-
大藪 範昭
京都大学大学院工学研究科
-
CUSTANCE Oscar
大阪大学大学院工学研究科
-
クスタンセ オスカル
大阪大学大学院工学研究科
-
CUSTANCE Oscar
阪大フロンティア研究機構
-
大藪 範昭
大阪大学大学院工学研究科電気電子情報工学専攻
-
西 竜治
大阪大学大学院工学研究科原子分子イオン制御理工学センター
-
李 仁淑
阪大フロンティア研究機構
-
西 竜治
大阪大学・大学院工学研究科
-
李 仁淑
阪大FRC
-
清野 宜秀
阪大FRC
-
Mishima Syuzo
Research Department Olympus Optical Co. Ltd.
-
阿部 真之
大阪大学 大学院 工学研究科
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