27aXK-7 原子間力顕微鏡を用いたIn/Si(111)-4×1表面の室温測定(27aXK グラフェン・半導体,領域9(表面・界面,結晶成長))
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2013-03-26
著者
-
阿部 真之
阪大フロンティア研究機構
-
杉本 宜昭
阪大院工
-
阿部 真之
大阪大学 大学院 工学研究科
-
山崎 詩郎
阪大院工
-
杉本 宣昭
阪大工
-
森田 清三
阪大産研
-
阿部 真之
名大院工
-
岩田 孝太
阪大院工
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