WS-02 ATOMIC MANIPULATION AND IDENTIFICATION USING NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE
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概要
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A noncontact atomic force microscope operated at low-temperature is used for vertical manipulation of selected single atoms from the Si(111)7×7 surface. The strong repulsive short-range chemical force interaction between the closest atoms of both tip apex and surface during a soft nanoindentation leads to the removal of a selected silicon atom from its equilibrium position at the surface without additional perturbation of the 7×7 unit cell. Deposition of single atom on a created vacancy at the surface is achieved. These manipulation processes are purely mechanical, since neither bias voltage nor voltage pulse is applied between probe and sample.
- 一般社団法人日本機械学会の論文
著者
-
森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
-
菅原 康弘
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
-
SUGAWARA Yasuhiro
Department of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Osaka University
-
Sugawara Y
Department Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Physics Faculty Of Science Hiroshima University
-
MORITA Seizo
Department of Physics, Faculty of Science, Hiroshima University
-
OYABU Noriaki
Department of Electronic Engineering
-
CUSTANCE Oscar
Handai Frontier Research Center
-
YI Insook
Handai Frontier Research Center (FRC)
-
Morita Seizo
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Iwate University
-
Morita Seizo
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Deparment Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Tohoku University
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