摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本表面科学会の論文
- 1998-06-10
著者
-
菅原 康弘
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
-
森田 清三
大阪大学工学部電子
-
菅原 康弘
大阪大学工学部電子
-
藤沢 悟
機械技術研究所
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Physics Faculty Of Science Hiroshima University
-
森田 清三
大阪大学工学研究科電気電子情報工学
関連論文
- 液中原子間力顕微鏡(AFM)の基礎と応用
- 原子間力顕微鏡のABC
- 液中AFMの高感度化と有機・バイオへの応用
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成
- 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察
- STMおよびAFM, 原理と応用
- NANO7会議報告
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成(加工・記録)(近接場科学の工学応用をめざして)
- 非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察
- 非接触AFMの現状と将来
- 5-2 走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価 : 5. ナノ加工・評価技術(ナノテクノロジーの光とエレクトロニクスへの応用)
- 走査プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング
- Atomically Resolved Imaging of Si(100)2 × 1,2 × 1:H and 1 × 1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- 非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるか?
- ノーベル賞と分光学 : VI. 走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー
- Sb/Si混在表面における非接触AFM像の探針先端原子種依存性
- 25aTA-3 TiO_2(110)表面上の酸素欠陥規則配列構造の非接触原子間力顕微鏡による観察
- 原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究
- 技術解説 ナノ力学に基づいた原子分子技術
- 非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学 (特集:表面・界面科学研究)
- 非接触AFMによる軌道の混成による力の原子レベル観察
- 原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測
- 27aY-8 欠陥を含むTIO_2(110)-1x2再構成表面構造のSTM、および、NC-AFMによる観察
- 25pW-5 非接触原子間力顕微鏡による金属・金属相互作用の研究
- WS07 非接触原子間力顕微鏡によるDNA観察 (原子間力顕微鏡 (AFM) : 成果・問題・展望)
- AFMの現状と展開
- AFMによる原子間力の分光と制御
- 29a-PS-51 原子間力顕微鏡の空間分解能の指針
- 28p-Q-1 非接触原子間力顕微鏡によるSi(111)√3×radic3-Ag表面のAg原子の原子分解能観察
- 蛋白質・核酸・酵素の1分子測定と操作法 非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析
- (ナノメートル領域の評価技術の最前線)(2)極限空間分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡法
- 非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観察*
- 摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー
- 超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開
- 30a-YF-6 非接触モードAFMによるSi(111)√×√-Ag構造の観察
- 30a-YF-5 ダイナミックモードAFMによる原子スケールでのエネルギー散逸の観察
- 30a-YF-4 GaAs(110)劈開表面の点欠陥の静電気力顕微鏡による観察
- 非接触AFMによる半導体表面の観察--化学的活性度と電荷の原子レべル観察 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (ニュ-マイクロスコ-プの今後の展開)
- 非接触モード原子間力顕微鏡の現状と展望
- 7a-Q-4 非接触AFMを用いた力によるエバネッセント光の画像化
- Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上
- Si(001)ステップからの表面応力によるダイマー構造変化のLT-NC-AFM測定
- マイクロマシンとトライボロジー
- 表面機能元素の直接観察
- 原子の化学的識別と操作
- 原子分解能を有する原子間力顕微鏡法の新展開 : 原子種識別や原子操作を行うための新技術(実験技術)
- 複素ナノ構造体を組み立てる : 原子間力顕微鏡で原子を識別・操作・組立
- 6p-B-10 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での探針-試料間相互作用の研究
- Critical Current Density-Magnetic Field Curve for Untwinned Orthorhombic Nd_Ba_Cu_3O_ Single Crystal and Its Microstructure
- Effect of Heat Treatment on Critical Current Density-Magnetic Field Curve for YBa_2Cu_3O_ Single Crystal and Its Microstructure
- 摩擦力顕微鏡におけるグラファイト表面の原子スケール摩擦の荷重依存性
- 5p-F-1 TGS(010)劈開面における2次元核の成長・消滅のAFM観察
- 31P-T-2 グラファイトへき開面上の原子スケール摩擦現象の理論解析
- 2次元量子化摩擦のシミュレイションと実験結果の比較
- 摩擦力顕微鏡 -ミクロな摩擦力の解釈-
- 2次元量子化摩擦の局所化された揺らぎ
- 31p-E-11 2次元量子摩擦現象の荷重依存性
- 31p-E-10 イオン結晶劈開面における2次元量子摩擦現象の観察
- 2次元摩擦力顕微鏡による量子トライボロジーの研究
- 3a-C-7 量子摩擦現象の凝着点の軌跡のモデル解析
- 3a-C-6 2次元スティックスリップモデルの定量的検証
- 28p-C-7 原子レベルの摩擦における摩擦法則の破れ
- FFM (マイクロマシンとマイクロトライボロジ-) -- (マイクロトライボロジ---マイクロアナリシスツ-ル)
- A new method for preparing plan-view TEM specimen of multilayered films using focused ion beam
- Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope
- WS-02 ATOMIC MANIPULATION AND IDENTIFICATION USING NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE
- Carbon-Nanotube Tip for Highly-Reproducible Imaging of Deoxyribonucleic Acid Helical Turns by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Structures of an Oxygen-Deficient TiO_2(110) Surface Studied by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Missing Ag Atom on Si(111)√×√-Ag Surface Observed by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Optical Near-Field Imaging Using the Kelvin Probe Technique
- New Computed Tomography Algorithm of Electrostatic Force Microscopy Based on the Singular Value Decomposition Combined with the Discrete Fourier Transform
- Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy
- Simulated Computed Tomography for the Reconstruction of Vacancies Using an Atomic Force Microscope Image
- 8p-B-6 静電気力顕微鏡によるGaAs(110)表面の高分解能観察
- 非接触原子間力顕微鏡による化合物半導体の原子分解能観察
- 非接触モード原子間力顕微鏡の新展開
- Growth of a Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved(010)Surface of (NH_2CH_2COOH)_3H_2SO_4
- Time Evolution of Surface Topography arournd a Domain Wall in Ferroelectric (NH_2CH_2COOH)_3・H_2SO_4
- Determination of Sign of Surface Charges of Ferroelectric TGS Using Electrostatic Force Microscope Combined with the Voltage Modulation Technique
- Localized Fluctuation of a Two-Dimensional Atomic-Scale Friction
- Fluctuation in Two-Dimensional Stick-Slip Phenomenon Observed with Two-Dimensional Frictional Force Microscope
- 原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出
- Rare Earth Substitution Effects and Magnetic Field Dependence of Critical Current in Y_RE_xBa_2Cu_3O_y Coated Conductors with Nanoparticles (RE = Sm, Gd)
- Enhancement of Flux Pinning in Y_Sm_xBa_Cu_3O_y Coated Conductors with Nanoparticles
- Specimen preparation for high-resolution transmission electron microscopy using focused ion beam and Ar ion milling
- Atomic Resolution Imaging on Si(100)2 × 1 and Si(100)2 × 1 : H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- 原子間力顕微鏡を用いた新規なナノ計測技術
- 24pZN-1 非接触原子間力顕微鏡の新展開
- 原子の化学的識別と操作