29a-PS-51 原子間力顕微鏡の空間分解能の指針
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1999-03-15
著者
-
菅原 康弘
阪大工
-
菅原 康弘
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
-
森田 清三
阪大工学部
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Physics Faculty Of Science Hiroshima University
関連論文
- 27pYG-3 Bi(001)薄膜表面の原子間力顕微鏡/静電気力分光測定(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 26pTF-5 MEM(TCNQ)_2結晶表面の分子配列と電位分布の実空間観察(TTF-TCNQ,中性イオン性転移高分子等,領域7,分子性固体・有機導体)
- 液中原子間力顕微鏡(AFM)の基礎と応用
- 原子間力顕微鏡のABC
- 液中AFMの高感度化と有機・バイオへの応用
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成
- 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察
- STMおよびAFM, 原理と応用
- NANO7会議報告
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成(加工・記録)(近接場科学の工学応用をめざして)
- 非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察
- 非接触AFMの現状と将来
- 5-2 走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価 : 5. ナノ加工・評価技術(ナノテクノロジーの光とエレクトロニクスへの応用)
- 走査プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング
- Atomically Resolved Imaging of Si(100)2 × 1,2 × 1:H and 1 × 1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- 非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるか?
- ノーベル賞と分光学 : VI. 走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー
- Sb/Si混在表面における非接触AFM像の探針先端原子種依存性
- 25aTA-3 TiO_2(110)表面上の酸素欠陥規則配列構造の非接触原子間力顕微鏡による観察
- 原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究
- 技術解説 ナノ力学に基づいた原子分子技術
- 非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学 (特集:表面・界面科学研究)
- 非接触AFMによる軌道の混成による力の原子レベル観察
- 原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測
- 27aY-8 欠陥を含むTIO_2(110)-1x2再構成表面構造のSTM、および、NC-AFMによる観察
- 25pW-5 非接触原子間力顕微鏡による金属・金属相互作用の研究
- WS07 非接触原子間力顕微鏡によるDNA観察 (原子間力顕微鏡 (AFM) : 成果・問題・展望)
- AFMの現状と展開
- AFMによる原子間力の分光と制御
- 29a-PS-51 原子間力顕微鏡の空間分解能の指針
- 28p-Q-1 非接触原子間力顕微鏡によるSi(111)√3×radic3-Ag表面のAg原子の原子分解能観察
- 蛋白質・核酸・酵素の1分子測定と操作法 非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析
- (ナノメートル領域の評価技術の最前線)(2)極限空間分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡法
- 非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観察*
- 摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー
- 超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開
- 30a-YF-6 非接触モードAFMによるSi(111)√×√-Ag構造の観察
- 30a-YF-5 ダイナミックモードAFMによる原子スケールでのエネルギー散逸の観察
- 30a-YF-4 GaAs(110)劈開表面の点欠陥の静電気力顕微鏡による観察
- 非接触AFMによる半導体表面の観察--化学的活性度と電荷の原子レべル観察 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (ニュ-マイクロスコ-プの今後の展開)
- 非接触モード原子間力顕微鏡の現状と展望
- 7a-Q-4 非接触AFMを用いた力によるエバネッセント光の画像化
- 28aYG-1 多周波数原子間力顕微鏡法の開発とGe(001)の表面弾性に関する研究(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 極低温環境における原子分解能非接触原子間力顕微鏡計測技術
- 23aXB-9 低温AFMによるCu(110)-0表面での単原子操作(23aXB 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23aXB-8 NC-AFMによるGe(001)ダイマー構造操作と応力場変化の観察(23aXB 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 20pWB-12 単一高分子鎖の粘弾性スペクトル計測(20pWB 高分子,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))
- Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上
- Si(001)ステップからの表面応力によるダイマー構造変化のLT-NC-AFM測定
- 18aTC-7 単一タンパク質分子の外力による崩壊・緩和と粘弾性応答(生物物理,領域12,ソフトマター物理,化学物理,生物物理)
- 18aTG-7 静電気力分光法を用いた絶縁性CaF_2(111)/Si表面の電子状態の測定(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 24aYH-2 Si(001)表面のステップ近傍における表面応力分布のLT-NC-AFM測定(24aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23pYC-7 LT-NC-AFMによるSi(111)表面でのエネルギー散逸の距離・電位依存性測定(23pYC 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24aRC-6 タンパク質単一分子の力学的アンフォールディングプロファイル計測(24aRC 生物物理,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))
- 29pYB-9 LT-NC-AFMによるSi(001)-p(2×1)構造の出現原因の解明(29pYB 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 29pYB-11 AFMによるSi(001)ダイマー構造変化の散逸像観察(29pYB 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 22aYE-12 NC-AFM/KPFMを用いたGe/Si(111)-(7×7)表面における原子種識別機構の解明(表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 22aYE-11 AFMによるSi(001)表面の構造操作(表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24aTG-8 親水性表面における水和水のAFMによる粘弾性計測(24aTG 溶液・液体,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))
- 6p-B-10 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での探針-試料間相互作用の研究
- Critical Current Density-Magnetic Field Curve for Untwinned Orthorhombic Nd_Ba_Cu_3O_ Single Crystal and Its Microstructure
- Effect of Heat Treatment on Critical Current Density-Magnetic Field Curve for YBa_2Cu_3O_ Single Crystal and Its Microstructure
- 5p-F-1 TGS(010)劈開面における2次元核の成長・消滅のAFM観察
- 31P-T-2 グラファイトへき開面上の原子スケール摩擦現象の理論解析
- 2次元量子化摩擦のシミュレイションと実験結果の比較
- A new method for preparing plan-view TEM specimen of multilayered films using focused ion beam
- Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope
- WS-02 ATOMIC MANIPULATION AND IDENTIFICATION USING NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE
- Carbon-Nanotube Tip for Highly-Reproducible Imaging of Deoxyribonucleic Acid Helical Turns by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Structures of an Oxygen-Deficient TiO_2(110) Surface Studied by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Missing Ag Atom on Si(111)√×√-Ag Surface Observed by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Optical Near-Field Imaging Using the Kelvin Probe Technique
- New Computed Tomography Algorithm of Electrostatic Force Microscopy Based on the Singular Value Decomposition Combined with the Discrete Fourier Transform
- Force Imaging of Optical Near-Field Using Noncontact Mode Atomic Force Microscopy
- Simulated Computed Tomography for the Reconstruction of Vacancies Using an Atomic Force Microscope Image
- 8p-B-6 静電気力顕微鏡によるGaAs(110)表面の高分解能観察
- 非接触原子間力顕微鏡による化合物半導体の原子分解能観察
- 非接触モード原子間力顕微鏡の新展開
- 非接触モードAFMにおける力勾配-距離曲線の解析 II
- 非接触モードAFMによるファンデルワールスカのミクロなモデルの検証
- Growth of a Two-Dimensional Nucleus on a Cleaved(010)Surface of (NH_2CH_2COOH)_3H_2SO_4
- Time Evolution of Surface Topography arournd a Domain Wall in Ferroelectric (NH_2CH_2COOH)_3・H_2SO_4
- Determination of Sign of Surface Charges of Ferroelectric TGS Using Electrostatic Force Microscope Combined with the Voltage Modulation Technique
- Localized Fluctuation of a Two-Dimensional Atomic-Scale Friction
- Fluctuation in Two-Dimensional Stick-Slip Phenomenon Observed with Two-Dimensional Frictional Force Microscope
- 原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出
- Rare Earth Substitution Effects and Magnetic Field Dependence of Critical Current in Y_RE_xBa_2Cu_3O_y Coated Conductors with Nanoparticles (RE = Sm, Gd)
- Enhancement of Flux Pinning in Y_Sm_xBa_Cu_3O_y Coated Conductors with Nanoparticles
- Specimen preparation for high-resolution transmission electron microscopy using focused ion beam and Ar ion milling
- Atomic Resolution Imaging on Si(100)2 × 1 and Si(100)2 × 1 : H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- 原子間力顕微鏡を用いた新規なナノ計測技術
- ケルビンプローブフォース顕微鏡とその薄膜成長評価への応用 (特集 SPMのフロンティア : 多様な材料系の研究ニーズに対応するSPM物性計測の最先端)
- ケルビンプローブフォース顕微鏡とその薄膜成長評価への応用
- 26aXZA-11 原子間力顕微鏡法によるGe(001)-c(4x2)表面上の原子スケール弾性状態の測定(26aXZA 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))