Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2004-04-01
著者
-
森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
-
菅原 康弘
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
-
ABE Masayuki
Department of Pharmacokinetics and Pharmacodynamics and Global Center of Excellence (COE) Program, S
-
SUGAWARA Yasuhiro
Department of Applied Physics, Graduate School of Engineering, Osaka University
-
Sugawara Y
Department Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Physics Faculty Of Science Hiroshima University
-
MORITA Seizo
Department of Physics, Faculty of Science, Hiroshima University
-
NISHI Ryuji
Department of Internal Medicine, Kawasaki Medical School
-
SUGIMOTO Yoshiaki
Department of Electronic Engineering
-
OYABU Noriaki
Department of Electronic Engineering
-
CUSTANCE Oscar
Handai Frontier Research Center
-
Nishi Ryuji
Department Of Electronic Engineering
-
Morita Seizo
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Iwate University
-
SUGIMOTO Yoshiaki
Graduate School of Engineering, Osaka University
-
ABE Masayuki
Graduate School of Engineering, Osaka University
-
Sugimoto Yoshiaki
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Abe Masayuki
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Morita Seizo
Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Abe Masayuki
Department Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Science Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Deparment Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Tohoku University
-
Abe Masayuki
Department Of Applied Biological Chemistry Faculty Of Agriculture Tohoku University
関連論文
- IUVSTA Scientific and Technical Divisions (STD) の報告
- 液中原子間力顕微鏡(AFM)の基礎と応用
- 原子間力顕微鏡のABC
- 液中AFMの高感度化と有機・バイオへの応用
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成
- 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察
- STMおよびAFM, 原理と応用
- NANO7会議報告
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成(加工・記録)(近接場科学の工学応用をめざして)
- 非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察
- 非接触AFMの現状と将来
- 5-2 走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価 : 5. ナノ加工・評価技術(ナノテクノロジーの光とエレクトロニクスへの応用)
- 走査プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング
- Atomically Resolved Imaging of Si(100)2 × 1,2 × 1:H and 1 × 1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- 非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるか?
- ノーベル賞と分光学 : VI. 走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー
- Sb/Si混在表面における非接触AFM像の探針先端原子種依存性
- 25aTA-3 TiO_2(110)表面上の酸素欠陥規則配列構造の非接触原子間力顕微鏡による観察
- 原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究
- 技術解説 ナノ力学に基づいた原子分子技術
- 非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学 (特集:表面・界面科学研究)
- 非接触AFMによる軌道の混成による力の原子レベル観察
- 原子間力顕微鏡による原子レベルの物性評価と計測
- 27aY-8 欠陥を含むTIO_2(110)-1x2再構成表面構造のSTM、および、NC-AFMによる観察
- 25pW-5 非接触原子間力顕微鏡による金属・金属相互作用の研究
- WS07 非接触原子間力顕微鏡によるDNA観察 (原子間力顕微鏡 (AFM) : 成果・問題・展望)
- AFMの現状と展開
- AFMによる原子間力の分光と制御
- 29a-PS-51 原子間力顕微鏡の空間分解能の指針
- 28p-Q-1 非接触原子間力顕微鏡によるSi(111)√3×radic3-Ag表面のAg原子の原子分解能観察
- 蛋白質・核酸・酵素の1分子測定と操作法 非接触原子間力顕微鏡による単一分子解析
- (ナノメートル領域の評価技術の最前線)(2)極限空間分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡法
- 非接触原子間力顕微鏡を用いた軌道の混成による力の原子レベル観察*
- 摩擦力顕微鏡を用いた原子スケールのトライボロジー
- 超高真空非接触モード原子間力顕微鏡の新展開
- 30a-YF-6 非接触モードAFMによるSi(111)√×√-Ag構造の観察
- 30a-YF-5 ダイナミックモードAFMによる原子スケールでのエネルギー散逸の観察
- 30a-YF-4 GaAs(110)劈開表面の点欠陥の静電気力顕微鏡による観察
- 非接触AFMによる半導体表面の観察--化学的活性度と電荷の原子レべル観察 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (ニュ-マイクロスコ-プの今後の展開)
- 非接触モード原子間力顕微鏡の現状と展望
- 7a-Q-4 非接触AFMを用いた力によるエバネッセント光の画像化
- Q値制御法による位相変調方式原子間力顕微鏡の感度向上
- Si(001)ステップからの表面応力によるダイマー構造変化のLT-NC-AFM測定
- 原子分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡の開発研究
- 最近の研究と技術 単原子ペンによるナノパターンニング
- 交換型垂直原子操作を用いたアトムペン方式の原子埋め込み文字の研究
- 表面機能元素の直接観察
- 原子の化学的識別と操作
- 27aTE-9 AFM/STMによる周波数シフトとトンネル電流の同時測定(27aTE 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 力学的原子操作による原子埋め込み文字の室温組み立て (特集 ナノ観察・ナノ操作による新機能開拓)
- フォースカーブによる元素識別とフォース・マッピング
- 24pPSA-22 AFMによるP/Si(001)-(2×1)表面観察(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
- Best Shot 写真でひもとく未来材料 原子間力顕微鏡--超高分解能イメージングから原子操作,原子識別のツール
- 原子分解能を有する原子間力顕微鏡法の新展開 : 原子種識別や原子操作を行うための新技術(実験技術)
- AFMによる原子操作と複素ナノ構造体組立
- 複素ナノ構造体を組み立てる : 原子間力顕微鏡で原子を識別・操作・組立
- 原子の指紋--原子間力顕微鏡による元素識別
- 原子間力顕微鏡による原子の力学的識別・操作・組立
- NC-AFMによるSi(111)-(7×7)表面での Si adatom の室温水平原子操作
- 24aYH-1 AFMを用いた「交換型垂直原子操作」(24aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23pYC-6 AFMを用いた力学的元素識別:Si(111)-(√×√)異種元素混在表面(23pYC 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 周波数検出方式原子間力顕微鏡の超高分解能化とフォーススペクトロスコピー
- 6p-B-10 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での探針-試料間相互作用の研究
- Critical Current Density-Magnetic Field Curve for Untwinned Orthorhombic Nd_Ba_Cu_3O_ Single Crystal and Its Microstructure
- Effect of Heat Treatment on Critical Current Density-Magnetic Field Curve for YBa_2Cu_3O_ Single Crystal and Its Microstructure
- 摩擦力顕微鏡におけるグラファイト表面の原子スケール摩擦の荷重依存性
- 5p-F-1 TGS(010)劈開面における2次元核の成長・消滅のAFM観察
- A new method for preparing plan-view TEM specimen of multilayered films using focused ion beam
- 原子間力顕微鏡を用いた室温における site-specific なフォーススペクトロスコピー
- 極微の力で固体表面の原子を観る (特集:観察と計測・分析の科学)
- 19pYP-3 原子間力顕微鏡による原子の力学的識別・操作・組立(領域9シンポジウム : 原子間力顕微鏡法の新展開,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 非接触原子間力顕微鏡を用いた「交換型原子操作」
- 原子間力顕微鏡によるSiとGe表面での原子操作
- 原子押し込み : AFMによる原子の力学的垂直操作(摩擦の物理,研究会報告)
- Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope
- WS-02 ATOMIC MANIPULATION AND IDENTIFICATION USING NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPE
- Carbon-Nanotube Tip for Highly-Reproducible Imaging of Deoxyribonucleic Acid Helical Turns by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Structures of an Oxygen-Deficient TiO_2(110) Surface Studied by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Missing Ag Atom on Si(111)√×√-Ag Surface Observed by Noncontact Atomic Force Microscopy
- Optical Near-Field Imaging Using the Kelvin Probe Technique
- New Computed Tomography Algorithm of Electrostatic Force Microscopy Based on the Singular Value Decomposition Combined with the Discrete Fourier Transform
- 非接触原子間力顕微鏡による化合物半導体の原子分解能観察
- 原子間力顕微鏡によるエバネセント波の検出
- 走査型プローブ顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡 : 見果てぬ夢のツール
- ナノ創製・機能探索のための走査型プローブ顕微鏡
- Atomic Resolution Imaging on Si(100)2 × 1 and Si(100)2 × 1 : H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers
- ナノスケール計測におけるロバストネス : 走査型プローブ顕微鏡の新技術(ロバストネスを探る)
- Observation of Subsurface Atoms of the Si(111)-($7{\times}7$) Surface by Atomic Force Microscopy
- 原子間力顕微鏡による室温での個々の原子の識別・操作とナノ構造の組立(最近の研究から)
- 原子間力顕微鏡による室温水平原子操作と組立
- 先端計測分析機器開発
- CP7-6 ここまでできるナノテクノロジー(総合企画7「New Technologyが創造する泌尿器科の近未来」)
- 21pXC-2 原子間力顕微鏡の新展開と強誘電体応用への期待
- ナノ構造を観察する--走査型プローブ顕微鏡 (特集 ナノテクノロジー)
- 24pZN-1 非接触原子間力顕微鏡の新展開
- Simultaneous Scanning Force/Tunneling Microscopy Using a Quartz Cantilever with a Tungsten Tip
- さらなる未来へ : 夢は限りなく