Atomically Resolved Imaging of Si(100)2 × 1,2 × 1:H and 1 × 1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 2002-07-30
著者
-
森田 清三
大阪大学大学院工学研究科
-
菅原 康弘
大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻
-
MORITA Seizo
Handai Frontier Research Center
-
SUGAWARA Yasuhiro
Handai Frontier Research Center
-
Sugawara Y
Department Of Applied Physics Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Faculty Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Electronic Engineering Graduate School Of Engineering Osaka University
-
Sugawara Yasuhiro
Department Of Physics Faculty Of Science Hiroshima University
-
Mishima Syuzo
Research Department Olympus Optical Co. Ltd.
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