非接触AFMによる半導体表面の観察--化学的活性度と電荷の原子レべル観察 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (ニュ-マイクロスコ-プの今後の展開)
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