走査トンネル顕微鏡を用いた4H-SiC(0001)再構成表面の評価
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概要
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- 2001-03-20
著者
-
平井 正明
岡山大学自然科学研究科
-
服部 望
岡山大学自然科学研究科
-
森居 隆史
岡山大学自然科学研究科
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日下 征彦
岡山大学自然科学研究科
-
岩見 基弘
岡山大学自然科学研究科
-
岩見 基弘
岡山大理
-
岩見 基弘
岡大物理
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