内山 博幸 | 株式会社日立製作所中央研究所
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概要
関連著者
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内山 博幸
(株)日立製作所 中央研究所
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谷口 隆文
(株)日立製作所中央研究所
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内山 博幸
株式会社日立製作所中央研究所
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株式会社日立製作所中央研究所
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株式会社日立製作所中央研究所
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近藤 正彦
日立製作所中央研究所:(現)大阪大学 大学院工学研究科
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中原 宏治
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株式会社日立製作所中央研究所
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株式会社日立製作所中央研究所
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田窪 千咲紀
(株)日立製作所 中央研究所
著作論文
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- 超高速微細InGaP/GaAs HBTの特性と回路応用
- GaInNAsレーザ : GaInNAsレーザの現状と課題(半導体レーザ及び光パッシブコンポネント, 及び一般)
- [招待講演]GaInNAsレーザ : GaInNAsレーザの現状と課題(半導体レーザ及び光パッシブコンポネント, 及び一般)
- フッ素系プラズマによる損傷とその回復に関する検討(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)
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- XPSによるドライエッチング損傷機構の検討(化合物半導体デバイスのプロセス技術)
- 超高速微細InGaP/GaAs HBTの特性と回路応用
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