金森 幹夫 | 日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

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概要

• 同名の論文著者
• 日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所の論文著者

関連著者

• 分島 彰男

  財団法人新機能素子研究開発協会:日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所

• 金森 幹夫

  NEC化合物デバイス事業部

• 金森 幹夫

  NEC関西エレクトロニクス研究所

• 恩田 和彦

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 水木 恵美子

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 金森 幹夫

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 冨士原 明

  日本電気株式会社光・無線デバイス研究所

• 金森 幹夫

  Nec Ulsiデバイス開発研究所

• 恩田 和彦

  日本電気株式会社化合物デバイス事業部

• 恩田 和彦

  日本電気(株)マイクロエレクトロニクス研究所超高速デバイス研究部

• 水木 恵美子

  日本電気株式会社光・無線デバイス研究所

• 分島 彰男

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 冨士原 明

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 中山 達峰

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 宮本 広信

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 葛原 正明

  (財)新機能素子研究開発協会 先進高周波デバイスr&dセンター

• 中山 達峰

  財団法人新機能素子研究開発協会:日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所

• 安藤 裕二

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 葛原 正明

  ULSIデバイス開発研究所

• 分島 影男

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 富士 原明

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 葛原 正明

  日本電気(株)関西エレクトロニクス研究所

• 葛原 正明

  日本電気(株)光・無線デバイス研究所

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著作論文

• InAlAs/InGaAs系ヘテロ接合FETの高信頼化
• 高信頼AlAs/InAs超格子挿入型InAlAs/InGaAs系HJFETの高周波特性
• InAlAs/InGaAs系HJFETのNs劣化メカニズム

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