鎌倉 望 | 東北大学電気通信研究所
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概要
関連著者
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鎌倉 望
東北大学電気通信研究所
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篠原 正典
長崎大学
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篠原 正典
長崎大学大学院生産科学研究科
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篠原 正典
東北大学電気通信研究所
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木村 康男
東北大学電気通信研究所
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庭野 道夫
東北大学電気通信研究所
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瀬山 顕雄
東北大学電気通信研究所
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庭野 道夫
東北大学電気通信研究所ナノスピン実験施設
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山崎 聡
産総研ナノテク部門
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三木 一司
物材機構
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三木 一司
電総研
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山崎 聡
JRCAT-融合研
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安田 哲二
Jrcat-産総研:次世代半導体-産総研
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西澤 正泰
半導体MIRAI産業技術総合研究所次世代半導体研究センター
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三木 一司
物材機構ナノマテ:産総研ナノテク
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三木 一司
物材・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
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三木 一司
産業技術総合研究所 ダイヤモンド研究センター
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三木 一司
物質・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
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三木 一司
(独)物質・材料研究機構 ナノ有機センター
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三木 一司
(独)物質・材料研究機構ナノ有機センターナノアーキテクチャーグループ
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西澤 正泰
産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター
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山崎 聡
筑波大学 電子・物理工学専攻
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西澤 正泰
JRCAT-産総研
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三木 一司
ナノテク部門-産総研
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篠原 正典
東北大電通研
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鎌倉 望
東北大電通研
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木村 康男
東北大電通研
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庭野 道夫
東北大電通研
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山崎 聡
東芝メディカルシステムズ株式会社:jeita超音波専門委員会
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安田 哲二
Jrcat-nair
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山崎 聡
Jrcat(アトムテクノロジー研究体)-nair(産業技術融合領域研究所)
著作論文
- 19pPSB-35 H_2Oの2分子解離吸着によるSi(100)-(2x1)表面上でのC欠陥生成
- 18aTF-6 SiH_2Cl_2分子の吸着・熱分解過程における表面水素の挙動
- SiGe表面へのSiH_4の吸着過程
- SiGe表面へのSiH_4の吸着過程
- Si(100)へのSiH_4分子吸着過程
- 23pWA-8 SiH_4及びSi_2H_6分子SiGe表面吸着過程
- スピン分解光電子分光によるFe薄膜の磁性と電子状態の研究