五十嵐 信行 | Necシリコンシステム研

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概要

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• Necシリコンシステム研の論文著者

関連著者

• 五十嵐 信行

  NECシリコンシステム研究所

• 五十嵐 信行

  Necシリコンシステム研

• 戸田 昭夫

  Necシリコンシステム研

• 江崎 達也

  広島大学

• 池澤 健夫

  NEC情報システムズ

• 山本 豊二

  MIRAI-ASET

• 五十嵐 信行

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 山本 豊二

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 中村 英達

  NECシリコンシステム研究所

• 江崎 達也

  NECシリコンシステム研究所

• 岩本 敏幸

  NECシリコンシステム研究所

• 東郷 光洋

  NECシリコンシステム研究所

• 羽根 正巳

  NECシリコンシステム研究所

• 山本 豊二

  NECシリコンシステム研究所

• 東郷 光洋

  NECエレクトロニクス株式会社

• 山本 豊二

  NEC、シリコンシステム研究所

• 岩本 敏幸

  NEC シリコンシステム研究所

• 石田 宏一

  Necシリコンシステム研究所

• 小此木 堅祐

  エルピーダメモリ株式会社

• 羽根 正巳

  NECエレクトロニクス株式会社LSI基礎開発研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 羽根 正己

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 羽根 正巳

  Necシステムデバイス・基礎研究本部

• 羽根 正巳

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 渡部 宏治

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 池澤 健夫

  株式会社NEC情報システムズ

• 渡部 宏治

  NECシリコンシステム研究所

• 岩本 俊幸

  Nec Electronics Corporation

• 細川 由美子

  NECシリコンシステム研究所

• 小野 春彦

  NECシリコンシステム研

• 小此木 堅祐

  エルピーダメモリ開本

• 羽根 正巳

  ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部

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著作論文

• (110)面基板上に作製したサブ100nm CMOSの電気特性
• 収束電子回折によるデバイス構造の格子ひずみ評価
• HREM断面観察を用いたSiO_2/Si界面平坦性の定量測定
• VI. 半導体人工格子, 量子ドット 半導体へテロエピタキシャル界面構造の原子スケール観察

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