石田 宏一 | Necシリコンシステム研究所

スポンサーリンク

概要

• 石田 宏一の詳細を見る
• 同名の論文著者
• Necシリコンシステム研究所の論文著者

関連著者

• 石田 宏一

  Necシリコンシステム研究所

• 五十嵐 信行

  NECシリコンシステム研究所

• 五十嵐 信行

  Necマイクロエレクトロニクス研

• 石田 宏一

  NECマイクロエレ研

• 辰巳 徹

  NECマイクロエレクトロニクス研究所

• 寺岡 有殿

  日本電気(株)マイクロエレクトニクス研究所

• 秋本 晃一

  Necマイクロエレ研

• 五十嵐 信行

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  Necシリコンシステム研

• 青砥 なほみ

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 青砥 なほみ

  Nec Ulsiデバイス開研

• 西山 岩男

  日本電気(株)マイクロエレクトニクス研究所

• 中森 雅治

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 石田 宏一

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 寺岡 有殿

  NECマイクロエレクトロニクス研究所

• 西山 岩男

  NECマイクロエレクトロニクス研究所

• 辰巳 徹

  日本電気株式会社

• 五十嵐 信行

  日本電気マイクロエレクトロニクス研究所

• 石田 宏一

  日本電気マイクロエレクトロニクス研究所

• 酒井 朗

  日電・基研

• 五十嵐 信行

  日電・基研

• 馬場 寿夫

  日電・基研

• 石田 宏一

  日電・基研

もっと見る 閉じる

著作論文

• 微細コンタクトホール底Si表面自然酸化膜の制御
• 31a-WC-10 Si/Ge界面2x1秩序構造のHREM, GID観察
• VI. 半導体人工格子, 量子ドット 半導体へテロエピタキシャル界面構造の原子スケール観察
• 半導体人工格子,量子ドット (ミニ特集 電子顕微鏡による材料研究の最前線(第2回)半導体・セラミックス機能材料の格子欠陥とミクロ構造の観察)
• 29a-ZB-7 Si/Ge界面の高分解能電子顕微鏡観察
• 27a-S-6 AlAs/GaAs界面のステップ構造の高分解能電子顕微鏡観察
• 31p-TH-4 高分解能電子顕微鏡を用いた半導体ヘテロ界面の観察法(31pTH X線・粒子線)

スポンサーリンク