秋本 晃一 | Necマイクロエレ研
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概要
関連著者
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秋本 晃一
Necマイクロエレ研
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廣沢 一郎
Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)
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水木 純一郎
Nec基礎研究所
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広沢 一郎
NEC
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広沢 一郎
Nec分析評価センター
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広沢 一郎
Jasri
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廣沢 一郎
高輝度光科学研究センター(spring-8)
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廣沢 一郎
(財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i
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広沢 一郎
Necデバイス評価技術研究所
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辰巳 徹
マイクロ研
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松井 純爾
R & Dグループ
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水木 純一郎
Nec基礎研
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NECマイクロエレクトロニクス研究所
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廣沢 一郎
NEC基礎研究所
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石田 宏一
Necシリコンシステム研究所
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水木 純一郎
日電基礎研
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五十嵐 信行
日本電気(株)システムデバイス研究所
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五十嵐 信行
日本電気株式会社システムデバイス研究所
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五十嵐 信行
Necマイクロエレクトロニクス研
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廣沢 一郎
日電基礎研
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Tweet D
NECマイクロ研
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Bouldin C.E
NIST
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Sorensen L.B
ワシントン大
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松下 正
KFK PF
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水木 純一郎
日本電気株式会社基礎研究所
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秋本 晃一
日本電気株式会社基礎研究所
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廣沢 一郎
日本電気株式会社基礎研究所
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秋本 晃一
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松井 純爾
R & Dグループ
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秋本 晃一
日電・基礎研
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水木 純一郎
日電・基礎研
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廣沢 一郎
日電・基礎研
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辰巳 徹
日電・基礎研
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平山 博之
日電・基礎研
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相崎 尚昭
日電・基礎研
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松井 純爾
日電・基礎研
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辰巳 徹
日本電気株式会社
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石田 宏一
NECマイクロエレ研
著作論文
- 29p-ZB-1 回折XAFS-"DAFS"-
- SR-X線で見た半導体界面の再配列構造
- 5P-E-4 Molecular Beam Deposition SiO_2/Si(111)の再配列構造
- 26a-P-9 a-Si/Si(111)-7x7,a-Si/Ge_Si_(111)-5x5 の界面超構造
- 31a-WC-10 Si/Ge界面2x1秩序構造のHREM, GID観察