小此木 堅祐 | エルピーダメモリ株式会社

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概要

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• 同名の論文著者
• エルピーダメモリ株式会社の論文著者

関連著者

• 小此木 堅祐

  エルピーダメモリ株式会社

• 戸田 昭夫

  Necシリコンシステム研

• 山田 廉一

  東大理

• 五十嵐 信行

  NECシリコンシステム研究所

• 山田 廉一

  (株)日立製作所 中央研究所

• 山田 廉一

  日立製作所・中央研究所

• 毛利 友紀

  (株)日立製作所中央研究所

• 大湯 静憲

  エルピーダメモリ株式会社

• 五十嵐 信行

  Necシリコンシステム研

• 小野 春彦

  NECシリコンシステム研

• 小此木 堅祐

  エルピーダメモリ開本

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著作論文

• DRAMにおけるVRT(Variable Retention Time)の起源 : 接合リーク電流の2値変動(新メモリ技術とシステムLSI)
• 収束電子回折によるデバイス構造の格子ひずみ評価

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