山田 廉一 | (株)日立製作所 中央研究所
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概要
関連著者
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山田 廉一
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大湯 静憲
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小此木 堅祐
エルピーダメモリ株式会社
著作論文
- 定常/過渡電流分離法を用いたMOSキャパシタ劣化機構解明
- 過渡電流および定常電流を用いたMOSキャパシタ劣化機構解明
- 定常/過渡電流分離法を用いたMOSキャパシタ劣化機構解明
- DRAMにおけるVRT(Variable Retention Time)の起源 : 接合リーク電流の2値変動(新メモリ技術とシステムLSI)