原田 仁平 | 理学電機(株)x線研究所

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概要

• 同名の論文著者
• 理学電機(株)x線研究所の論文著者

関連著者

• 原田 仁平

  理学電機(株)x線研究所

• 高橋 功

  関西学院大学理学部

• 原田 仁平

  名大・工

• 高橋 功

  名大・工

• 志村 考功

  名大・工

• 原田 仁平

  名大工

• 後藤 明

  北大・工

• 高橋 功

  名古屋大学工学部応用物理学科

• 秋谷 和広

  北大・工

• 高橋 功

  名古屋大学・工学部

• 山田 一美

  名古屋大学・工学部

• 梅野 正隆

  大阪大学大学院工学研究科

• 古川 義純

  北大低温研

• 香内 晃

  北海道大学低温科学研究所

• 香内 晃

  北大低温研

• 前 晋爾

  北大工

• 古川 義純

  北大・低温研

• 本堂 武夫

  北大工

• 原田 仁平

  名古屋大学

• 飯田 裕

  名大・工

• 伊藤 洋文

  名古屋大学工学部

• 中野 晃軌

  名大・工

• 志村 孝功

  阪大・工

• 梅野 正隆

  阪大・工

• 佐俣 秀一

  東芝半導体技術部

• 後藤 明

  北大工

• 黒田 登志雄

  北大低温研

• 黒田 登志雄

  北大・低温研

• 黒田 登志雄

  北海道大学低温科学研究所

• 伊藤 洋文

  名古屋大学・工学部

• 大見 俊一郎

  東京工業大学

• 大見 俊一郎

  東京工業大学・総合理工学研究科

• 竹田 美和

  名古屋大学工学研究科結晶材料工学専攻

• 志村 考功

  名大工

• 川合 知二

  阪大・産研

• 竹田 美和

  名古屋大学

• 栗林 勝

  理学電機(株)

• 栗林 勝

  理学電機(株)x線研究所

• 田畑 仁

  阪大・産研

• 宮崎 徹也

  名大・工

• 本堂 武夫

  北大・工

• 本堂 武夫

  北大・低温研

• 原田 仁平

  理学電機

• 高橋 功

  名大工

• 前 晋爾

  北大工:(現)旭川工専

• 前 晋爾

  北大・工

• 山田 直樹

  福井大学工学研究科電気・電子工学専攻

• 藤林 桂

  名古屋大学工学部材料機能工学科

• 山田 直樹

  名古屋大学工学部材料機能工学科

• 隈元 隆行

  名古屋大学工学部材料機能工学科

• 田渕 雅夫

  名古屋大学工学部材料機能工学科

• 原田 仁平

  電気通信大学自然科学系

• 伊藤 洋分

  名大工

• 原田 仁平

  電通大

• 川崎 宏治

  東京工業大学・総合理工学研究科

• 古川 静二郎

  東京工業大学・総合理工学研究科

• Sokolov N.S.

  A.F.Ioffe Phisico-Technical Institute, Russia

• 山田 一美

  名大・工

• 志村 孝功

  名大・工

• 大沢 登

  理学電機

• 松下 嘉明

  東芝半導体技術部

• 川崎 宏治

  東京工業大学院総理工

• Sokolov N.s.

  A.f.ioffe Phisico-technical Institute Russia

• 田淵 雅夫

  名大工

• 秋谷 和広

  北大工

• 天野 憲広

  名大工

• 飯田 裕

  名大工

• 南 桂一

  北大工

• 大見 俊一郎

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 橋本 眞也

  いわき明星大学理工学部

• 古川 静二郎

  東京工業大学 大学院総合理工学研究科

• 橋本 眞也

  いわき明星大 理工

• 高橋 功

  関西学院大学大学院理工学研究科

• 高橋 功

  関西学院大学 大学院理工学研究科

• 田渕 雅夫

  名古屋大学

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著作論文

• Si(111)面上CaF_2薄膜の界面構造
• X線CTR散乱によるInP/InAsP/InP界面の構造解析
• 2a-Q-13 X線CTR散乱を用いた強誘電体薄膜の界面構造の評価
• X線散乱による結晶成長表面・界面の評価 (原子レベルでの結晶成長機構) -- (成長表面と界面構造)
• 14p-DL-10 シリコン(001)面上に成長した微細結晶相の構造 : 低温酸化の場合
• 15a-DJ-13 Si(111)表面のエッチング処理による形態変化 : X線CTR散乱による研究
• 14a-ZA-3 Si(001)上の酸化物微細結晶相
• 13a-Y-10 X線CTR散乱によるCaF_2/Si(111)界面構造と育成条件の研究
• 25p-S-7 X線CTR散乱法を用いた氷I_h結晶の表面構造の研究 IV
• 27p-PSA-25 回転対陰極を用いたバンザイ型X線回折計の開発
• 26p-F-4 X線CTR散乱によるSi(001)表面上のSiO_2薄膜の構造解析
• 30a-ZB-7 X線解析を用いたSi熱酸化膜中微細結晶相の研究(3)
• 30a-ZB-4 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 III
• 27a-L-8 X線CTR散乱によるSio_2/Si(001)の構造研究II
• 27a-Q-1 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 II
• 5a-TA-3 熱酸化したSi(001)表面からのX線反射率の測定
• 5a-TA-1 複結晶X線回折法による氷の表面融解に関する研究
• 微焦点X線源を用いた高精細画像
• 8p-B-14 結晶表面層の微視的原子構造の表現とX線散乱

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