5a-TA-1 複結晶X線回折法による氷の表面融解に関する研究
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1990-09-12
著者
-
原田 仁平
名大工
-
古川 義純
北大低温研
-
香内 晃
北海道大学低温科学研究所
-
香内 晃
北大低温研
-
前 晋爾
北大工
-
本堂 武夫
北大工
-
原田 仁平
理学電機(株)x線研究所
-
前 晋爾
北大工:(現)旭川工専
-
後藤 明
北大・工
-
後藤 明
北大工
-
黒田 登志雄
北大低温研
-
南 桂一
北大工
-
黒田 登志雄
北大・低温研
-
黒田 登志雄
北海道大学低温科学研究所
関連論文
- 21pGL-6 氷核活性バクテリア存在下での氷結晶成長速度の異方性(21pGL 結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 21pGL-5 空気-氷結晶界面での表面融解およびラフニングの光学その場観察(21pGL 結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 27aYH-3 氷結晶の気相成長過程の高分解光学顕微鏡観察(結晶成長,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 28pTE-3 氷結晶表面の高分解光学その場観察(28pTE 結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 2a-L-11 チタン酸バリウム立方晶構造の再検討
- 5p-B5-14 酸化物超伝導体BaPb_Bi_xO_3(X=0.25)のソフトフォノンモードの測定
- 2a-N-8 表面接触入射X線回折法(そのII)
- 3a-M-10 合金単結晶からのX線散漫散乱強度の成分分離への異常散乱現象の利用
- 3a-M-4 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析
- 4a-BC-10 KENS FOXにおけるデータ処理
- 1a-KN-8 CsPbCl_3中性子回折データの再解析
- 11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
- 11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
- 11a-H-9 KMnF_3の非調和熱振動
- 11a-H-8 CsPbCl_3の非調和熱振動について : Mair(1982)に対する反論
- 1a-BD-12 CsPbBr_3 立方昌の結晶構造と温度因子
- 10p-T-2 TDSの補正
- 10a-P-11 正方晶系チタン酸バリウムのキュリー点近傍での中性子回折による温度因子
- 27p-PSB-1 一方向成長するサクシノニトリル結晶の形態形成とレーザー照射効果
- 29p-YM-8 ATS散乱の偏光解析 II
- 31p-ZB-6 ATS散乱の偏光解析
- 28a-L-9 X線磁気散乱の偏光解析
- 5a-TA-8 チタン合金のオメガ相からの散漫散乱と原子の局所変位
- 5a-PS-2 Au-Mn, Au-CrおよびCu-Mnの局所構造と磁性
- 5a-L-3 スピングラスを示すAu-Fe合金からのX線散漫散乱の解析
- 27a-A-6 スピングラスを示すAu-Fe合金からのX線散漫散乱の解析
- NbC_からのX線散漫散乱とその解析(合金の相変態とその前駆現象,科研費研究会報告)
- 1p-UA-10 不規則Ag-15.0 at%Mg合金の局所構造と物性
- 3a-N-2 不規則Au-15at.%Mn合金の構造 : 高分解能電顕とX線の接点
- 2a-N-4 Optical type Huang scattering induced by short-range ordering of vacancies in NbC_
- 2a-N-3 超強力X線源によるNbC_からの散漫散乱測定
- 3a-M-9 不規則M-Mn系合金(M=Cu,Ag,Au)の構造と磁性I
- 3a-P-3 Cu微粒子結晶の酸化の過程
- 2a-RJ-6 金属微粒子結晶の表面特性温度の解釈
- 2a-RJ-5 金属微粒子結晶のX線特性温度の測定
- 28a-L-7 金属微粒子結晶のX線回折を用いた融合の研究
- 1a GK-2 TaS_2(pyridine)_中のピリジン分子の方位
- 22aWB-4 I型不凍タンパク質の氷界面吸着構造と氷の成長抑制機構(22aWB 生物物理,領域12(ソフトマター物理,化学物理,生物物理))
- シンジオタクチックポリスチレン包接結晶におけるゲスト分子の構造と結晶構造の相関
- 氷の結晶成長におけるパターン形成 : ISS-KIBO実験報告
- 27aQE-6 氷核活性バクテリア存在下での氷の結晶成長(生物物理,領域12,ソフトマター物理,化学物理,生物物理)
- 27aD04 不凍タンパク質(Antifreeze protein)の氷/水界面吸着状態に対する強磁場の効果(結晶成長基礎・理論シンポジウム,第34回結晶成長国内会議)
- 2a-YD-3 「mK制御セル」で見るCsPbCl_3の逐次相転移(2) : X線回折
- 微小重力下でのヨウ化カドミウム結晶の成長その場観察 : 基礎II
- 4p-NR-10 KENS-FOX(4軸型単結晶中性子回折装置)
- 5p-BK-2 TOF中性子回折データのプロフィル解析
- 19pTC-5 不凍糖タンパク質の水/氷界面への吸着と分子のコンフォメーション(生物物理,領域12,ソフトマター物理,化学物理,生物物理)
- 氷結晶界面における不凍タンパク質分子の吸着構造
- 27a-Q-1 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 II
- 5a-TA-3 熱酸化したSi(001)表面からのX線反射率の測定
- 5a-TA-1 複結晶X線回折法による氷の表面融解に関する研究
- 28pYR-3 PbTiO_3常誘電相の精密電子密度分布解析
- 27a-A-3 すれすれ入射及び出射X線回折法によるGaAlAs系混晶薄膜のTDS測定
- 27a-A-1 Si ウエハー(111)表面の原子変位
- 2a-N-9 非対称反射X線散漫散乱法によるSi単結晶の加工歪層の評価
- 2F611 X線回折法を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
- 4a-R-5 X線回折を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
- 29p-BPS-11 メスバウアー効果による鉄微粒子の酸化表面との界面層の格子振動
- 6a-B5-3 断面TEM像の光回折による結晶表面構造の評価
- 31p-BF-5 金属微粒子のX線回折法による研究
- 5a-TA-4 X線CTR散乱によるSiO_2/Si(001)界面の構造研究
- 1a-M-10 In_xTaS_2の構造
- 29p-BPS-23 C_の放射光による粉末X線回折
- 31p-TJ-8 SiO_2ガラス中のCdS微粒子のX線回折による評価について
- 29p-D-15 インターカレーション化合物Tl_xTaS_2の構造研究
- 25pYJ-10 マキシマムエントロピー法による正方晶BaTiO_3の電子密度分布
- 2a-G-2 結晶加工に伴う微小欠陥のX線散漫散乱による観察
- 3a-AD-7 X線回折高温炉の試作
- 12p-K-3 X線散漫散乱による不規則Cu-29.8at.%Pd合金の短範囲規則度の測定
- 12p-J-11 中性子散乱によるCuBrの格子振動の研究 II
- 8p-B-14 結晶表面層の微視的原子構造の表現とX線散乱
- 5a-TA-2 CTR散乱によるSi(111)表面の清浄化過程の観察
- 5p-P-4 クリスタル・トランケーション・ロッド
- 4a-B5-9 GaAs(001)表面からのCrystal Truncation Rodの観測
- 4a-B5-8 X線回折によるサンドウィッチ型GaAs/AlAs/GaAs界面での微小原子変位の評価
- X線散漫散乱法による半導体混晶中の局所構造の評価 : IV. 偏析の評価
- 29p-C-6 フーリェ解析法による (GaAs)_m (AlAs)_n 超格子の評価
- 2a-F-7 Tl_TaS_2の結晶構造(散漫散乱について)
- 3p-KH-2 Tl_xTaS_2(X=0.5)の結晶構造
- 3p-KH-1 Tl_xTaS_2の層間距離とステージング
- X線異常散乱を利用した単結晶散漫散乱強度の成分分離
- 11a-J-4 微粒子のデバイ・ワーラー因子
- 27a-ZG-6 X線回折によるZn微粒子の成長晶癖の研究
- 27a-A-2 X線フーリエ解析法による(GaAs)_m(AlAs)_n超格子界面のイオン位置決定について
- 31p-BF-6 不規則CuAu_3合金単結晶のX線散漫散乱
- 外から見たサイエンス・シティつくば ( 「サイエンス・シティ」)
- 31p-BE-2 Au_4 Mn単結晶のX線散漫散乱と原子対相互作用 III
- 12p-L-8 Au_4Mn単結晶のX線散漫散乱と原子対相互作用II
- 6p-D-9 X線散漫散乱によるAu_4Mn単結晶の原子配列と対相互作用
- AuMn系磁性合金の構造について(スピングラス(リエントラント転移を中心として),研究会報告)
- 5a-DQ-2 Si中の微小欠陥によるX線散漫散乱
- 3a-SG-2 金属酸化物中格子欠陥近傍の電子状態
- 10p-P-1 SrTiO_3の格子振動
- 31p-BB-11 X線散漫散乱によるSi中の微小欠陥の研究
- 3p-M-5 白色X線を用いた結晶構造解析
- タイトル無し
- タイトル無し
- 1a-A3-10 表面接触入射X線回折法半導体表面層の評価(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
- 30a-CF-8 X線用複合回転対陰極の試作(30a CF X線・粒子線)
- 30a-CF-11 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析(II)(30a CF X線・粒子線)