AuMn系磁性合金の構造について(スピングラス(リエントラント転移を中心として),研究会報告)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
この論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。
- 物性研究刊行会の論文
- 1987-04-20
著者
関連論文
- 2a-L-11 チタン酸バリウム立方晶構造の再検討
- 5p-B5-14 酸化物超伝導体BaPb_Bi_xO_3(X=0.25)のソフトフォノンモードの測定
- 2a-N-8 表面接触入射X線回折法(そのII)
- 3a-M-10 合金単結晶からのX線散漫散乱強度の成分分離への異常散乱現象の利用
- 3a-M-4 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析
- 4a-BC-10 KENS FOXにおけるデータ処理
- 1a-KN-8 CsPbCl_3中性子回折データの再解析
- 11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
- 11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
- 11a-H-9 KMnF_3の非調和熱振動
- 11a-H-8 CsPbCl_3の非調和熱振動について : Mair(1982)に対する反論
- 3a GG-10 CsPbX_3のM_3モード凍結とCubic相における異方的非調和熱振動
- 1a-BD-12 CsPbBr_3 立方昌の結晶構造と温度因子
- 6a-B-9 CuCl熱振動の非調和性 : 中性子線回折による
- 5a-B-12 TDSの補正 II
- 10p-T-2 TDSの補正
- 10a-P-11 正方晶系チタン酸バリウムのキュリー点近傍での中性子回折による温度因子
- 29p-YM-8 ATS散乱の偏光解析 II
- 31p-ZB-6 ATS散乱の偏光解析
- 28a-L-9 X線磁気散乱の偏光解析
- 5a-TA-8 チタン合金のオメガ相からの散漫散乱と原子の局所変位
- 5a-PS-2 Au-Mn, Au-CrおよびCu-Mnの局所構造と磁性
- 5a-L-3 スピングラスを示すAu-Fe合金からのX線散漫散乱の解析
- 27a-A-6 スピングラスを示すAu-Fe合金からのX線散漫散乱の解析
- NbC_からのX線散漫散乱とその解析(合金の相変態とその前駆現象,科研費研究会報告)
- 1p-UA-10 不規則Ag-15.0 at%Mg合金の局所構造と物性
- 3a-N-2 不規則Au-15at.%Mn合金の構造 : 高分解能電顕とX線の接点
- 2a-N-4 Optical type Huang scattering induced by short-range ordering of vacancies in NbC_
- 2a-N-3 超強力X線源によるNbC_からの散漫散乱測定
- 3a-M-9 不規則M-Mn系合金(M=Cu,Ag,Au)の構造と磁性I
- 3a-P-3 Cu微粒子結晶の酸化の過程
- 2a-RJ-6 金属微粒子結晶の表面特性温度の解釈
- 2a-RJ-5 金属微粒子結晶のX線特性温度の測定
- 28a-L-7 金属微粒子結晶のX線回折を用いた融合の研究
- 1a-U-12 白色X線とSSDによる散漫散乱の測定法とその分解能
- 3a-M-8 平均粒経100Aをもつ金微粒子のX線特性温度の測定
- 1a GK-2 TaS_2(pyridine)_中のピリジン分子の方位
- 4p-AC-11 β Brass型相転移における熱容量
- 2a-YD-3 「mK制御セル」で見るCsPbCl_3の逐次相転移(2) : X線回折
- 14p-DL-10 シリコン(001)面上に成長した微細結晶相の構造 : 低温酸化の場合
- 14a-ZA-3 Si(001)上の酸化物微細結晶相
- 25p-S-7 X線CTR散乱法を用いた氷I_h結晶の表面構造の研究 IV
- 27p-PSA-25 回転対陰極を用いたバンザイ型X線回折計の開発
- 26p-F-4 X線CTR散乱によるSi(001)表面上のSiO_2薄膜の構造解析
- 30a-ZB-7 X線解析を用いたSi熱酸化膜中微細結晶相の研究(3)
- 30a-ZB-4 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 III
- 4p-NR-10 KENS-FOX(4軸型単結晶中性子回折装置)
- 5p-BK-2 TOF中性子回折データのプロフィル解析
- 27a-L-8 X線CTR散乱によるSio_2/Si(001)の構造研究II
- 27a-Q-1 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 II
- 5a-TA-3 熱酸化したSi(001)表面からのX線反射率の測定
- 5a-TA-1 複結晶X線回折法による氷の表面融解に関する研究
- 28pYR-3 PbTiO_3常誘電相の精密電子密度分布解析
- 27a-A-3 すれすれ入射及び出射X線回折法によるGaAlAs系混晶薄膜のTDS測定
- 27a-A-1 Si ウエハー(111)表面の原子変位
- 2a-N-9 非対称反射X線散漫散乱法によるSi単結晶の加工歪層の評価
- 2F611 X線回折法を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
- 4a-R-5 X線回折を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
- 29p-BPS-11 メスバウアー効果による鉄微粒子の酸化表面との界面層の格子振動
- 4p-KE-11 TOF法中性子回折用の四軸型自動回折装置(I)
- 6a-B5-3 断面TEM像の光回折による結晶表面構造の評価
- 3a-A-5 CuBrの非調和性熱振動の研究
- 31p-BF-5 金属微粒子のX線回折法による研究
- 5p-L-10 磁性流体を用いたX線回転対陰極 II
- 5a-TA-4 X線CTR散乱によるSiO_2/Si(001)界面の構造研究
- 1a-M-10 In_xTaS_2の構造
- 29p-BPS-23 C_の放射光による粉末X線回折
- 31p-TJ-8 SiO_2ガラス中のCdS微粒子のX線回折による評価について
- 29p-D-15 インターカレーション化合物Tl_xTaS_2の構造研究
- 25pYJ-10 マキシマムエントロピー法による正方晶BaTiO_3の電子密度分布
- 30p-P-15 中性子-6Liガラスシンチレーター検出器の検討
- 1a-U-7 金属微粒子結晶のX線特性温度の測定
- 5a-TA-2 CTR散乱によるSi(111)表面の清浄化過程の観察
- 4a-B5-9 GaAs(001)表面からのCrystal Truncation Rodの観測
- 4a-B5-8 X線回折によるサンドウィッチ型GaAs/AlAs/GaAs界面での微小原子変位の評価
- 放射光用結晶分光型四軸回折計の製作とそれによる散漫散乱測定
- 5a-F-8 X線回折によるCsPbCl_3の相転移の研究
- 27a-A-2 X線フーリエ解析法による(GaAs)_m(AlAs)_n超格子界面のイオン位置決定について
- AuMn系磁性合金の構造について(スピングラス(リエントラント転移を中心として),研究会報告)
- フォトン・ファクトリーにおける水平型X線回折計による実験―物性低温グループ
- タイトル無し
- タイトル無し
- Optical Type Huang Scattering Induced by Short-range Ordering of Vacancies in NbC0.72
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- 31p-M3-4 イメーシング・プレートをもちいたX線散漫散乱の観測(X線・粒子線)
- 31p-M3-5 へき開面からのCrystal Truncation Rod(X線・粒子線)
- タイトル無し
- 28p-EB-4 イオン注入したシリコンによるブラグ反射プロファイルの変化(X線・粒子線)
- 29p-TH-13 Si(001)表面からのクリスタル・トランケーション・ロッド(29pTH X線・粒子線)
- 1a-A3-8 MBEで成長させた(GaAl)As膜からのTDSの解析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
- 28p-EB-5 シリコン表面から観測される棒状散乱の3軸X線回折法による高分解能測定(X線・粒子線)
- タイトル無し
- タイトル無し
- 1p-A3-2 不規則M-Mn系合金(M=Cu, Ag, Au)の構造と磁性II(1p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
- 1a-A3-7 エネルギー分散型X線回折法によるGaAsのAsの分析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)