29p-TH-13 Si(001)表面からのクリスタル・トランケーション・ロッド(29pTH X線・粒子線)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 一般社団法人日本物理学会の論文
- 1989-03-28
著者
関連論文
- 2a-L-11 チタン酸バリウム立方晶構造の再検討
- 1a-KN-8 CsPbCl_3中性子回折データの再解析
- 11a-H-9 KMnF_3の非調和熱振動
- 11a-H-8 CsPbCl_3の非調和熱振動について : Mair(1982)に対する反論
- 3a GG-10 CsPbX_3のM_3モード凍結とCubic相における異方的非調和熱振動
- 6a-B-9 CuCl熱振動の非調和性 : 中性子線回折による
- 5a-B-12 TDSの補正 II
- 1p-UA-10 不規則Ag-15.0 at%Mg合金の局所構造と物性
- 2a-N-4 Optical type Huang scattering induced by short-range ordering of vacancies in NbC_
- 2a-N-3 超強力X線源によるNbC_からの散漫散乱測定
- 2a-RJ-6 金属微粒子結晶の表面特性温度の解釈
- 2a-RJ-5 金属微粒子結晶のX線特性温度の測定
- 1a-U-12 白色X線とSSDによる散漫散乱の測定法とその分解能
- 3a-M-8 平均粒経100Aをもつ金微粒子のX線特性温度の測定
- 4p-AC-11 β Brass型相転移における熱容量
- 14p-DL-10 シリコン(001)面上に成長した微細結晶相の構造 : 低温酸化の場合
- 14a-ZA-3 Si(001)上の酸化物微細結晶相
- 25p-S-7 X線CTR散乱法を用いた氷I_h結晶の表面構造の研究 IV
- 27p-PSA-25 回転対陰極を用いたバンザイ型X線回折計の開発
- 26p-F-4 X線CTR散乱によるSi(001)表面上のSiO_2薄膜の構造解析
- 30a-ZB-7 X線解析を用いたSi熱酸化膜中微細結晶相の研究(3)
- 30a-ZB-4 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 III
- 27a-L-8 X線CTR散乱によるSio_2/Si(001)の構造研究II
- 27a-A-3 すれすれ入射及び出射X線回折法によるGaAlAs系混晶薄膜のTDS測定
- 27a-A-1 Si ウエハー(111)表面の原子変位
- 2a-N-9 非対称反射X線散漫散乱法によるSi単結晶の加工歪層の評価
- 4p-KE-11 TOF法中性子回折用の四軸型自動回折装置(I)
- 6a-B5-3 断面TEM像の光回折による結晶表面構造の評価
- 3a-A-5 CuBrの非調和性熱振動の研究
- 5p-L-10 磁性流体を用いたX線回転対陰極 II
- 5a-TA-4 X線CTR散乱によるSiO_2/Si(001)界面の構造研究
- 29p-BPS-23 C_の放射光による粉末X線回折
- 31p-TJ-8 SiO_2ガラス中のCdS微粒子のX線回折による評価について
- 30p-P-15 中性子-6Liガラスシンチレーター検出器の検討
- 1a-U-7 金属微粒子結晶のX線特性温度の測定
- 5a-TA-2 CTR散乱によるSi(111)表面の清浄化過程の観察
- 4a-B5-9 GaAs(001)表面からのCrystal Truncation Rodの観測
- 4a-B5-8 X線回折によるサンドウィッチ型GaAs/AlAs/GaAs界面での微小原子変位の評価
- 放射光用結晶分光型四軸回折計の製作とそれによる散漫散乱測定
- 5a-F-8 X線回折によるCsPbCl_3の相転移の研究
- 27a-A-2 X線フーリエ解析法による(GaAs)_m(AlAs)_n超格子界面のイオン位置決定について
- AuMn系磁性合金の構造について(スピングラス(リエントラント転移を中心として),研究会報告)
- フォトン・ファクトリーにおける水平型X線回折計による実験―物性低温グループ
- タイトル無し
- タイトル無し
- Optical Type Huang Scattering Induced by Short-range Ordering of Vacancies in NbC0.72
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- タイトル無し
- 31p-M3-4 イメーシング・プレートをもちいたX線散漫散乱の観測(X線・粒子線)
- 31p-M3-5 へき開面からのCrystal Truncation Rod(X線・粒子線)
- タイトル無し
- 28p-EB-4 イオン注入したシリコンによるブラグ反射プロファイルの変化(X線・粒子線)
- 29p-TH-13 Si(001)表面からのクリスタル・トランケーション・ロッド(29pTH X線・粒子線)
- 1a-A3-8 MBEで成長させた(GaAl)As膜からのTDSの解析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
- 28p-EB-5 シリコン表面から観測される棒状散乱の3軸X線回折法による高分解能測定(X線・粒子線)
- タイトル無し
- タイトル無し
- 1p-A3-2 不規則M-Mn系合金(M=Cu, Ag, Au)の構造と磁性II(1p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
- 1a-A3-7 エネルギー分散型X線回折法によるGaAsのAsの分析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)