柏原 泰治 | 名大・工

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概要

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著作論文

• 2a-N-9 非対称反射X線散漫散乱法によるSi単結晶の加工歪層の評価
• 4a-B5-9 GaAs(001)表面からのCrystal Truncation Rodの観測
• 4a-B5-8 X線回折によるサンドウィッチ型GaAs/AlAs/GaAs界面での微小原子変位の評価
• タイトル無し
• 31p-M3-4 イメーシング・プレートをもちいたX線散漫散乱の観測(X線・粒子線)
• 31p-M3-5 へき開面からのCrystal Truncation Rod(X線・粒子線)
• タイトル無し
• 29p-TH-13 Si(001)表面からのクリスタル・トランケーション・ロッド(29pTH X線・粒子線)
• 1a-A3-8 MBEで成長させた(GaAl)As膜からのTDSの解析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
• 28p-EB-5 シリコン表面から観測される棒状散乱の3軸X線回折法による高分解能測定(X線・粒子線)

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