5a-TA-4 X線CTR散乱によるSiO_2/Si(001)界面の構造研究

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1990-09-12

著者

• 原田 仁平

  名大・工

• 原田 仁平

  名大工

• 原田 仁平

  理学電機

• 飯田 裕

  名大・工

• 志村 孝功

  阪大・工

• 志村 孝功

  名大・工

• 佐俣 秀一

  東芝半導体技術部

• 松下 嘉明

  東芝半導体技術部

関連論文

• 2a-L-11 チタン酸バリウム立方晶構造の再検討
• 5p-B5-14 酸化物超伝導体BaPb_Bi_xO_3(X=0.25)のソフトフォノンモードの測定
• 2a-N-8 表面接触入射X線回折法(そのII)
• 3a-M-10 合金単結晶からのX線散漫散乱強度の成分分離への異常散乱現象の利用
• 3a-M-4 半導体超格子構造に伴う歪分布のX線散乱法による解析
• 4a-BC-10 KENS FOXにおけるデータ処理
• 1a-KN-8 CsPbCl_3中性子回折データの再解析
• 11p-T-11 フォトンファクトリー低温X線回折ゴニオメータの建設
• 11p-T-8 X線異常散乱を用いたCu_2NiZn合金の短範囲規則の測定
• 11a-H-9 KMnF_3の非調和熱振動
• 11a-H-8 CsPbCl_3の非調和熱振動について : Mair(1982)に対する反論
• 3a GG-10 CsPbX_3のM_3モード凍結とCubic相における異方的非調和熱振動
• 1a-BD-12 CsPbBr_3 立方昌の結晶構造と温度因子
• 6a-B-9 CuCl熱振動の非調和性 : 中性子線回折による
• 5a-B-12 TDSの補正 II
• 10p-T-2 TDSの補正
• 10a-P-11 正方晶系チタン酸バリウムのキュリー点近傍での中性子回折による温度因子
• 29p-YM-8 ATS散乱の偏光解析 II
• 31p-ZB-6 ATS散乱の偏光解析
• 28a-L-9 X線磁気散乱の偏光解析
• 5a-TA-8 チタン合金のオメガ相からの散漫散乱と原子の局所変位
• 5a-PS-2 Au-Mn, Au-CrおよびCu-Mnの局所構造と磁性
• 5a-L-3 スピングラスを示すAu-Fe合金からのX線散漫散乱の解析
• 27a-A-6 スピングラスを示すAu-Fe合金からのX線散漫散乱の解析
• NbC_からのX線散漫散乱とその解析(合金の相変態とその前駆現象,科研費研究会報告)
• 1p-UA-10 不規則Ag-15.0 at%Mg合金の局所構造と物性
• 3a-N-2 不規則Au-15at.%Mn合金の構造 : 高分解能電顕とX線の接点
• 2a-N-4 Optical type Huang scattering induced by short-range ordering of vacancies in NbC_
• 2a-N-3 超強力X線源によるNbC_からの散漫散乱測定
• 3a-M-9 不規則M-Mn系合金(M=Cu,Ag,Au)の構造と磁性I
• 3a-P-3 Cu微粒子結晶の酸化の過程
• 2a-RJ-6 金属微粒子結晶の表面特性温度の解釈
• 2a-RJ-5 金属微粒子結晶のX線特性温度の測定
• 28a-L-7 金属微粒子結晶のX線回折を用いた融合の研究
• 1a-U-12 白色X線とSSDによる散漫散乱の測定法とその分解能
• 3a-M-8 平均粒経100Aをもつ金微粒子のX線特性温度の測定
• 1a GK-2 TaS_2(pyridine)_中のピリジン分子の方位
• 4p-AC-11 β Brass型相転移における熱容量
• 2a-YD-3 「mK制御セル」で見るCsPbCl_3の逐次相転移(2) : X線回折
• 14p-DL-10 シリコン(001)面上に成長した微細結晶相の構造 : 低温酸化の場合
• 14a-ZA-3 Si(001)上の酸化物微細結晶相
• 25p-S-7 X線CTR散乱法を用いた氷I_h結晶の表面構造の研究 IV
• 27p-PSA-25 回転対陰極を用いたバンザイ型X線回折計の開発
• 26p-F-4 X線CTR散乱によるSi(001)表面上のSiO_2薄膜の構造解析
• 30a-ZB-7 X線解析を用いたSi熱酸化膜中微細結晶相の研究(3)
• 30a-ZB-4 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 III
• 4p-NR-10 KENS-FOX(4軸型単結晶中性子回折装置)
• 5p-BK-2 TOF中性子回折データのプロフィル解析
• 27a-L-8 X線CTR散乱によるSio_2/Si(001)の構造研究II
• 27a-Q-1 X線回折法による氷の表面融解に関する研究 II
• 5a-TA-3 熱酸化したSi(001)表面からのX線反射率の測定
• 5a-TA-1 複結晶X線回折法による氷の表面融解に関する研究
• 28pYR-3 PbTiO_3常誘電相の精密電子密度分布解析
• 27a-A-3 すれすれ入射及び出射X線回折法によるGaAlAs系混晶薄膜のTDS測定
• 27a-A-1 Si ウエハー(111)表面の原子変位
• 2a-N-9 非対称反射X線散漫散乱法によるSi単結晶の加工歪層の評価
• 2F611 X線回折法を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
• 4a-R-5 X線回折を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
• 29p-BPS-11 メスバウアー効果による鉄微粒子の酸化表面との界面層の格子振動
• 4p-KE-11 TOF法中性子回折用の四軸型自動回折装置(I)
• 6a-B5-3 断面TEM像の光回折による結晶表面構造の評価
• 3a-A-5 CuBrの非調和性熱振動の研究
• 31p-BF-5 金属微粒子のX線回折法による研究
• 5p-L-10 磁性流体を用いたX線回転対陰極 II
• 5a-TA-4 X線CTR散乱によるSiO_2/Si(001)界面の構造研究
• 1a-M-10 In_xTaS_2の構造
• 29p-BPS-23 C_の放射光による粉末X線回折
• 31p-TJ-8 SiO_2ガラス中のCdS微粒子のX線回折による評価について
• 29p-D-15 インターカレーション化合物Tl_xTaS_2の構造研究
• 25pYJ-10 マキシマムエントロピー法による正方晶BaTiO_3の電子密度分布
• 30p-P-15 中性子-6Liガラスシンチレーター検出器の検討
• 1a-U-7 金属微粒子結晶のX線特性温度の測定
• 5a-TA-2 CTR散乱によるSi(111)表面の清浄化過程の観察
• 4a-B5-9 GaAs(001)表面からのCrystal Truncation Rodの観測
• 4a-B5-8 X線回折によるサンドウィッチ型GaAs/AlAs/GaAs界面での微小原子変位の評価
• 放射光用結晶分光型四軸回折計の製作とそれによる散漫散乱測定
• 5a-F-8 X線回折によるCsPbCl_3の相転移の研究
• 27a-A-2 X線フーリエ解析法による(GaAs)_m(AlAs)_n超格子界面のイオン位置決定について
• AuMn系磁性合金の構造について(スピングラス(リエントラント転移を中心として),研究会報告)
• フォトン・ファクトリーにおける水平型X線回折計による実験―物性低温グループ
• タイトル無し
• タイトル無し
• Optical Type Huang Scattering Induced by Short-range Ordering of Vacancies in NbC0.72
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• 31p-M3-4 イメーシング・プレートをもちいたX線散漫散乱の観測(X線・粒子線)
• 31p-M3-5 へき開面からのCrystal Truncation Rod(X線・粒子線)
• タイトル無し
• 28p-EB-4 イオン注入したシリコンによるブラグ反射プロファイルの変化(X線・粒子線)
• 29p-TH-13 Si(001)表面からのクリスタル・トランケーション・ロッド(29pTH X線・粒子線)
• 1a-A3-8 MBEで成長させた(GaAl)As膜からのTDSの解析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
• 28p-EB-5 シリコン表面から観測される棒状散乱の3軸X線回折法による高分解能測定(X線・粒子線)
• タイトル無し
• タイトル無し
• 1p-A3-2 不規則M-Mn系合金(M=Cu, Ag, Au)の構造と磁性II(1p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)
• 1a-A3-7 エネルギー分散型X線回折法によるGaAsのAsの分析(31p A3 X線・粒子線,X線・粒子線)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク