冗長化FF置き換え方式による高信頼性VLSI設計の自動化(信頼性,システムオンシリコンを支える設計技術)
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概要
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ディープサブミクロン領域での素子特性のばらつきや、経年劣化、ソフトエラーによるタイミングエラー対策としてカナリアFFを用いた高信頼性VLSI設計手法の提案を行った。カナリアFFで置き換えるフリップ・フロップの位置の限定手法と配置配線後のチップ面積および消費電力に与える影響について評価を行った。
- 2012-02-28
著者
-
佐藤 寿倫
九州大学システムLSI研究センター
-
佐藤 寿倫
株式会社東芝セミコンダクター社マイクロエレクトロニクス技術研究所
-
佐藤 寿倫
福岡大学
-
林田 隆則
福岡大学
-
矢野 憲
福岡大学|独立行政法人科学技術振興機構、CREST
-
吉木 崇人
福岡大学
-
矢野 憲
福岡大学
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