29pXB-8 電荷測定による二重量子ドットの計数統計(29pXB 量子ドット,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2006-03-04

著者

• 藤澤 利正

  NTT物性基礎研

• 平山 祥郎

  NTT物性基礎研

• 林 稔晶

  Ntt物性基礎研

• 藤澤 利正

  東工大極低温セ

• 富田 律也

  東工大院理工

• 藤沢 利正

  Ntt 基礎研

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