20pYK-12 傾斜磁場を用いた二層V_T=1量子ホール状態における真性ギャップの測定(20pYK 量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2008-08-25

著者

• 熊田 倫雄

  NTT物性基礎研

• 藤澤 利正

  NTT物性基礎研

• 村木 康二

  NTT物性基礎研

• 藤澤 利正

  東工大極低温セ

• Giudici Paula

  NTT物性研

• 藤澤 利正

  東工大院理工

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