26pSA-12 サニャック干渉計による量子ホール電子系のスピン偏極計測(26pSA 領域4 ポスターセッション,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 2012-03-05

著者

• 室 清文

  千葉大院理

• 熊田 倫雄

  NTT物性基礎研

• 音 賢一

  千葉大院理

• 平山 祥郎

  ERATO-NSEP

• 軍司 雄太

  千葉大院理

• 長尾 圭介

  千葉大院理

• 熊田 倫雄

  NTT基礎研

• 平山 祥郎

  ERATO-JST

• 熊田 倫雄

  NTT物性科学基礎研究所

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